Madrid Yearly Review 2017 - Executive Summary

International Registrations of Marks

Autor(es): OMPI | Año de publicación: 2017

Tipo de licencia: Esta obra está sujeta a una licencia de Creative Commons del tipo Atribución 3.0 Organizaciones intergubernamentales.

This document provides the key trends in the use of the WIPO-administered Madrid System. This edition provides a summary of the statistics reported in the Madrid Yearly Review 2017.