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Interrogation > Dessins et modèles industriels > Français
Présentation des bases de données mondiales de l'OMPI
Sur notre site Web, vous pouvez consulter des millions de brevets, de marques et de dessins et modèles, et trouver des informations sur la législation en vigueur en matière de propriété intellectuelle dans les pays du monde entier.
Année de publication: 2019
Revue annuelle du système de La Haye 2018 - Résumé
Enregistrement international des dessins et modèles industriels
Ce résumé met en évidence les grandes tendances en ce qui concerne l'utilisation du système de La Haye pour l'enregistrement international des dessins et modèles industriels, administré par l'OMPI.
Année de publication: 2018
Propriété intellectuelle : Faits et chiffres de l'OMPI 2017
Une vue d'ensemble de l'activité dans le domaine de la propriété intellectuelle sur la base des données statistiques annuelles les plus récentes disponibles auprès des offices nationaux et régionaux de la propriété intellectuelle et à l'OMPI.
Base de données mondiale sur les dessins et modèles
Le moteur de recherche gratuit pour les dessins et modèles au niveau mondial
Cette brochure présente les différentes possibilités offertes pour rechercher des documents de dessins ou modèles industriels dans la Base de données mondiale sur les dessins et modèles de l'OMPI.
Année de publication: 2017
Revue annuelle du système de La Haye 2017 - Résumé
Propriété intellectuelle : Faits et chiffres de l'OMPI 2016
Revue annuelle du système de La Haye - Enregistrements internationaux de dessins et modèles industriels - 2016
Faits, chiffres et analyses détaillés concernant l'enregistrement international des dessins et modèles industriels.
Année de publication: 2016
Propriété intellectuelle : Faits et chiffres de l'OMPI 2015
Revue annuelle du système de La Haye - Enregistrements internationaux de dessins et modèles industriels - 2015
Année de publication: 2015
Propriété intellectuelle : Faits et chiffres de l'OMPI 2014
Une vue d'ensemble de l'activité en matière de propriété intellectuelle fondée sur les données statistiques complètes les plus récentes.