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Consulta > Español > 2025
Guía internacional para jueces sobre la administración judicial de litigious relativos a patentes
En esta guía, elaborada con el apoyo de la Facultad de Derecho de Berkeley y el Instituto Judicial de Berkeley, de la Universidad de California, se ponen de relieve los importantes avances logrados en la administración de las causas relativas a las patentes en once jurisdicciones que conocen de numerosas causas en la materia. En la guía se ofrece una visión general del sistema de patentes de cada jurisdicción y, en particular, se presenta información sobre la función que desempeñan las oficinas en la evaluación de la validez de las patentes y en la adopción de decisiones al respecto, así como sobre las estructuras judiciales competentes para resolver las controversias en materia de patentes. A continuación, la estructura de cada capítulo responde a las distintas etapas de los procesos judiciales en materia de patentes en las causas civiles por infracción. El lector puede crear una guía personalizada si selecciona la combinación deseada de jurisdicciones y temas contenidos en la guía. Puede accederse a la guía por medio del enlace que figura más adelante o mediante la página web https://www.wipo.int/about-patent-judicial-guide/es.
Año de publicación: 2025
Arreglo de La Haya relativo al registro internacional de dibujos y modelos industriales
Reglamento (texto en vigor el 1 de enero de 2025) / Instrucciones Administrativas (texto en vigor el 1 de enero de 2025)
El Sistema de La Haya para el Registro Internacional de Dibujos y Modelos Industriales ofrece una solución práctica para registrar hasta 100 dibujos y modelos en cualquiera de sus partes contratantes, mediante la presentación de una única solicitud internacional ante la OMPI. La gestión del registro internacional resultante se realiza mediante un solo trámite. El Sistema de La Haya se rige por el Arreglo de La Haya.