Propiedad intelectual Formación en PI Respeto por la PI Divulgación de la PI La PI para... La PI y… La PI en… Información sobre patentes y tecnología Información sobre marcas Información sobre diseños industriales Información sobre las indicaciones geográficas Información sobre las variedades vegetales (UPOV) Leyes, tratados y sentencias de PI Recursos de PI Informes sobre PI Protección por patente Protección de las marcas Protección de diseños industriales Protección de las indicaciones geográficas Protección de las variedades vegetales (UPOV) Solución de controversias en materia de PI Soluciones operativas para las oficinas de PI Pagar por servicios de PI Negociación y toma de decisiones Cooperación para el desarrollo Apoyo a la innovación Colaboraciones público-privadas Herramientas y servicios de IA La Organización Trabajar con la OMPI Rendición de cuentas Patentes Marcas Diseños industriales Indicaciones geográficas Derecho de autor Secretos comerciales Academia de la OMPI Talleres y seminarios Observancia de la PI WIPO ALERT Sensibilizar Día Mundial de la PI Revista de la OMPI Casos prácticos y casos de éxito Novedades sobre la PI Premios de la OMPI Empresas Universidades Pueblos indígenas Judicatura Recursos genéticos, conocimientos tradicionales y expresiones culturales tradicionales Economía Financiación Activos intangibles Igualdad de género Salud mundial Cambio climático Política de competencia Objetivos de Desarrollo Sostenible Tecnologías de vanguardia Aplicaciones móviles Deportes Turismo PATENTSCOPE Análisis de patentes Clasificación Internacional de Patentes ARDI - Investigación para la innovación ASPI - Información especializada sobre patentes Base Mundial de Datos sobre Marcas Madrid Monitor Base de datos Artículo 6ter Express Clasificación de Niza Clasificación de Viena Base Mundial de Datos sobre Dibujos y Modelos Boletín de Dibujos y Modelos Internacionales Base de datos Hague Express Clasificación de Locarno Base de datos Lisbon Express Base Mundial de Datos sobre Marcas para indicaciones geográficas Base de datos de variedades vegetales PLUTO Base de datos GENIE Tratados administrados por la OMPI WIPO Lex: leyes, tratados y sentencias de PI Normas técnicas de la OMPI Estadísticas de PI WIPO Pearl (terminología) Publicaciones de la OMPI Perfiles nacionales sobre PI Centro de Conocimiento de la OMPI Informes de la OMPI sobre tendencias tecnológicas Índice Mundial de Innovación Informe mundial sobre la propiedad intelectual PCT - El sistema internacional de patentes ePCT Budapest - El Sistema internacional de depósito de microorganismos Madrid - El sistema internacional de marcas eMadrid Artículo 6ter (escudos de armas, banderas, emblemas de Estado) La Haya - Sistema internacional de diseños eHague Lisboa - Sistema internacional de indicaciones geográficas eLisbon UPOV PRISMA UPOV e-PVP Administration UPOV e-PVP DUS Exchange Mediación Arbitraje Determinación de expertos Disputas sobre nombres de dominio Acceso centralizado a la búsqueda y el examen (CASE) Servicio de acceso digital (DAS) WIPO Pay Cuenta corriente en la OMPI Asambleas de la OMPI Comités permanentes Calendario de reuniones WIPO Webcast Documentos oficiales de la OMPI Agenda para el Desarrollo Asistencia técnica Instituciones de formación en PI Apoyo para COVID-19 Estrategias nacionales de PI Asesoramiento sobre políticas y legislación Centro de cooperación Centros de apoyo a la tecnología y la innovación (CATI) Transferencia de tecnología Programa de Asistencia a los Inventores (PAI) WIPO GREEN PAT-INFORMED de la OMPI Consorcio de Libros Accesibles Consorcio de la OMPI para los Creadores WIPO Translate Conversión de voz a texto Asistente de clasificación Estados miembros Observadores Director general Actividades por unidad Oficinas en el exterior Ofertas de empleo Adquisiciones Resultados y presupuesto Información financiera Supervisión
Arabic English Spanish French Russian Chinese
Leyes Tratados Sentencias Consultar por jurisdicción

Reglamento de 2015 sobre esquemas de trazado (topografías) de los circuitos integrados (designación de países, territorios o zonas que reúnen las condiciones establecidas)(enmienda), Hong Kong (China)

Atrás
Versión más reciente en WIPO Lex
Detalles Detalles Año de versión 2015 Fechas Entrada en vigor: 27 de noviembre de 2015 Adoptado/a: 27 de mayo de 2015 Tipo de texto Normas/Reglamentos Materia Esquemas de trazado de los circuitos integrados Notas En la notificación de Hong Kong a la OMC de conformidad con el artículo 63.2 del Acuerdo sobre los ADPIC se establece lo siguiente:
'Este Reglamento modifica la lista del Reglamento sobre esquemas de trazado (topografías) de los circuitos integrados (designación de países, territorios o zonas que reúnen las condiciones establecidas) (capítulo 445, normativa legal subordinada B).
Este Reglamento actualiza la lista de países, territorios o zonas considerados idóneos a efectos del cumplimiento de las obligaciones internacionales establecidas en el Acuerdo sobre los ADPIC con arreglo a las cuales se deberá conceder a los esquemas de trazado (topografías) de los ciudadanos de otros países, territorios o zonas Miembros de la OMC el mismo nivel de protección de la propiedad intelectual que se concede a los de los ciudadanos de Hong Kong, China.'

Documentos disponibles

Textos principales Textos relacionados
Textos principales Textos principales Inglés Layout-Design (Topography) of Integrated Circuits (Designation of Qualifying Countries, Territories or Areas)(Amendment) Regulation 2015        
 Layout-Design (Topography) of Integrated Circuits (Designation of Qualifying Countries, Territories or Areas)(Amendment) Regulation 2015

 第 1條

《2015年集成電路的布圖設計 (拓樸圖 )(合資格國家、領域或地方的指定 ) (修訂 )規例》

2015年第 124號法律公告 B2120

 Section1

Layout-design(Topography)ofIntegratedCircuits(DesignationofQualifying Countries,TerritoriesorAreas)(Amendment)Regulation2015

L.N.124of2015 B2121

2015年第 124號法律公告

《2015年集成電路的布圖設計 (拓樸圖 ) (合資格國家、 領域或地方的指定 ) (修訂 )規例》

(由行政長官在徵詢行政會議的意見後根據《集成電路的布圖設計 (拓樸圖 )條例》(第 445章 )第 24條訂立 )

1. 生效日期 本規例自 2015年 11月 27日起實施。

2. 修訂《集成電路的布圖設計 (拓樸圖 ) (合資格國家、領域或 地方的指定 )規例》 《集成電路的布圖設計 (拓樸圖 ) (合資格國家、領域或地方 的指定 )規例》(第 445章,附屬法例 B)現予修訂,修訂方式 列於第 3條。

3. 修訂附表 (合資格國家、領域或地方 ) (1) 附表,英文文本——

(a) 廢除 “The Republic of Cape Verde”;

(b) 在“The Republic of Burundi”項目之後—— 加入 “The Republic of Cabo Verde”。

(2) 附表——

L.N. 124 of 2015

Layout-design (Topography) of Integrated Circuits (Designation of Qualifying Countries, Territories or

Areas) (Amendment) Regulation 2015

(Made by the Chief Executive under section 24 of the Layout-design (Topography) of Integrated Circuits Ordinance (Cap. 445) after

consultation with the Executive Council)

1. Commencement

This Regulation comes into operation on 27 November 2015.

2. Layout-design (Topography) of Integrated Circuits (Designation of Qualifying Countries, Territories or Areas) Regulation amended

The Layout-design (Topography) of Integrated Circuits (Designation of Qualifying Countries, Territories or Areas) Regulation (Cap. 445 sub. leg. B) is amended as set out in section 3.

3. Schedule amended (qualifying countries, territories or areas)

(1) The Schedule, English text—

(a) Repeal

“The Republic of Cape Verde”;

(b) After item “The Republic of Burundi”—

Add

“The Republic of Cabo Verde”.

(2) The Schedule, after item “The Socialist Republic of Viet Nam”—

 第 3條

《2015年集成電路的布圖設計 (拓樸圖 )(合資格國家、領域或地方的指定 ) (修訂 )規例》

2015年第 124號法律公告 B2122

 Section3

Layout-design(Topography)ofIntegratedCircuits(DesignationofQualifying Countries,TerritoriesorAreas)(Amendment)Regulation2015

L.N.124of2015 B2123

Add

“The Republic of Yemen”.

C. Y. LEUNG Chief Executive

27 May 2015

按筆劃數目順序加入 “也門共和國”。

行政長官 梁振英

2015年 5月 27日

《2015年集成電路的布圖設計 (拓樸圖 )(合資格國家、領域或地方的指定 ) (修訂 )規例》

2015年第 124號法律公告 B2124

註釋 第 1段

Layout-design(Topography)ofIntegratedCircuits(DesignationofQualifying Countries,TerritoriesorAreas)(Amendment)Regulation2015

L.N.124of2015 B2125

ExplanatoryNote Paragraph1

Explanatory Note

This Regulation updates the list of qualifying countries, territories or areas contained in the Layout-design (Topography) of Integrated Circuits (Designation of Qualifying Countries, Territories or Areas) Regulation (Cap. 445 sub. leg. B).

註釋

本規例更新《集成電路的布圖設計 (拓樸圖 ) (合資格國家、 領域或地方的指定 )規例》(第 445章,附屬法例 B)所載的合 資格國家、領域或地方列表。


Legislación Enmienda (1 texto(s)) Enmienda (1 texto(s)) Referencia del documento de la OMC
IP/N/1/HKG/28
IP/N/1/HKG/L/4
Datos no disponibles.

N° WIPO Lex HK200