Ya están disponibles en PATENTSCOPE cerca de 5 millones de nuevos documentos de literatura distinta de la de patentes

Gracias a una colaboración exclusiva entre la OMPI y la editorial IEEE, ahora es posible consultar en PATENTSCOPE una vasta colección de IEEE de casi 5 millones de documentos de literatura distinta de la de patentes (LDP).

IEEE publica casi un tercio de la literatura técnica mundial sobre ingeniería eléctrica, informática y electrónica. Esto incluye más de 200 actas, diarios y revistas publicados anualmente. En colaboración con John Wiley and Sons, Inc., IEEE también produce libros técnicos, monografías, guías y libros de texto. Las revistas de IEEE figuran sistemáticamente entre las más citadas en ingeniería eléctrica y electrónica, telecomunicaciones y otros campos técnicos¹.

Principales características y ventajas:

• Capacidad de búsqueda exhaustiva:los datos bibliográficos y el contenido de texto completo de la LDP son totalmente consultables mediante las funciones de búsqueda de PATENTSCOPE, incluidos los campos de búsqueda en la LDP.
• Integración de la CIP:el algoritmo de la OMPI, de creación interna, asigna información de la CIP a LDP, y mejora su categorización y accesibilidad.
• Resultados integrados: El contenido de la LDP se integra perfectamente en los resultados de la búsqueda junto con los documentos de patente, clasificados por pertinencia respecto a la consulta.
• Herramienta de traducción: Para facilitar la comprensión de los artículos en diferentes idiomas, WIPO Translate está a su disposición para traducir los artículos de LDP.

La incorporación de la LDP a la búsqueda de patentes sirve para colmar lagunas informativas, ya que ofrece información sobre innovaciones que pueden no haber sido patentadas o que actualmente están fuera del ámbito de cobertura de las patentes, pero que siguen siendo pertinentes para la tecnología en cuestión. La inclusión de la LDP en su estrategia de búsqueda de patentes contribuye a una comprensión más amplia del panorama tecnológico y aumenta la probabilidad de identificar exhaustivamente el estado de la técnica pertinente.

Notas a pie de página

1Fuente: https://www.ieee.org/about/