عن الملكية الفكرية التدريب في مجال الملكية الفكرية إذكاء الاحترام للملكية الفكرية التوعية بالملكية الفكرية الملكية الفكرية لفائدة… الملكية الفكرية و… الملكية الفكرية في… معلومات البراءات والتكنولوجيا معلومات العلامات التجارية معلومات التصاميم الصناعية معلومات المؤشرات الجغرافية معلومات الأصناف النباتية (الأوبوف) القوانين والمعاهدات والأحكام القضائية المتعلقة بالملكية الفكرية مراجع الملكية الفكرية تقارير الملكية الفكرية حماية البراءات حماية العلامات التجارية حماية التصاميم الصناعية حماية المؤشرات الجغرافية حماية الأصناف النباتية (الأوبوف) تسوية المنازعات المتعلقة بالملكية الفكرية حلول الأعمال التجارية لمكاتب الملكية الفكرية دفع ثمن خدمات الملكية الفكرية هيئات صنع القرار والتفاوض التعاون التنموي دعم الابتكار الشراكات بين القطاعين العام والخاص أدوات وخدمات الذكاء الاصطناعي المنظمة العمل مع الويبو المساءلة البراءات العلامات التجارية التصاميم الصناعية المؤشرات الجغرافية حق المؤلف الأسرار التجارية أكاديمية الويبو الندوات وحلقات العمل إنفاذ الملكية الفكرية WIPO ALERT إذكاء الوعي اليوم العالمي للملكية الفكرية مجلة الويبو دراسات حالة وقصص ناجحة في مجال الملكية الفكرية أخبار الملكية الفكرية جوائز الويبو الأعمال الجامعات الشعوب الأصلية الأجهزة القضائية الموارد الوراثية والمعارف التقليدية وأشكال التعبير الثقافي التقليدي الاقتصاد المساواة بين الجنسين الصحة العالمية تغير المناخ سياسة المنافسة أهداف التنمية المستدامة التكنولوجيات الحدودية التطبيقات المحمولة الرياضة السياحة ركن البراءات تحليلات البراءات التصنيف الدولي للبراءات أَردي – البحث لأغراض الابتكار أَردي – البحث لأغراض الابتكار قاعدة البيانات العالمية للعلامات مرصد مدريد قاعدة بيانات المادة 6(ثالثاً) تصنيف نيس تصنيف فيينا قاعدة البيانات العالمية للتصاميم نشرة التصاميم الدولية قاعدة بيانات Hague Express تصنيف لوكارنو قاعدة بيانات Lisbon Express قاعدة البيانات العالمية للعلامات الخاصة بالمؤشرات الجغرافية قاعدة بيانات الأصناف النباتية (PLUTO) قاعدة بيانات الأجناس والأنواع (GENIE) المعاهدات التي تديرها الويبو ويبو لكس - القوانين والمعاهدات والأحكام القضائية المتعلقة بالملكية الفكرية معايير الويبو إحصاءات الملكية الفكرية ويبو بورل (المصطلحات) منشورات الويبو البيانات القطرية الخاصة بالملكية الفكرية مركز الويبو للمعارف الاتجاهات التكنولوجية للويبو مؤشر الابتكار العالمي التقرير العالمي للملكية الفكرية معاهدة التعاون بشأن البراءات – نظام البراءات الدولي ePCT بودابست – نظام الإيداع الدولي للكائنات الدقيقة مدريد – النظام الدولي للعلامات التجارية eMadrid الحماية بموجب المادة 6(ثالثاً) (الشعارات الشرفية، الأعلام، شعارات الدول) لاهاي – النظام الدولي للتصاميم eHague لشبونة – النظام الدولي لتسميات المنشأ والمؤشرات الجغرافية eLisbon UPOV PRISMA UPOV e-PVP Administration UPOV e-PVP DUS Exchange الوساطة التحكيم قرارات الخبراء المنازعات المتعلقة بأسماء الحقول نظام النفاذ المركزي إلى نتائج البحث والفحص (CASE) خدمة النفاذ الرقمي (DAS) WIPO Pay الحساب الجاري لدى الويبو جمعيات الويبو اللجان الدائمة الجدول الزمني للاجتماعات WIPO Webcast وثائق الويبو الرسمية أجندة التنمية المساعدة التقنية مؤسسات التدريب في مجال الملكية الفكرية الدعم المتعلق بكوفيد-19 الاستراتيجيات الوطنية للملكية الفكرية المساعدة في مجالي السياسة والتشريع محور التعاون مراكز دعم التكنولوجيا والابتكار نقل التكنولوجيا برنامج مساعدة المخترعين WIPO GREEN WIPO's PAT-INFORMED اتحاد الكتب الميسّرة اتحاد الويبو للمبدعين WIPO Translate أداة تحويل الكلام إلى نص مساعد التصنيف الدول الأعضاء المراقبون المدير العام الأنشطة بحسب كل وحدة المكاتب الخارجية المناصب الشاغرة المشتريات النتائج والميزانية التقارير المالية الرقابة
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سويسرا

CH173

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Ordonnance du 26 avril 1993 sur la protection des topographies de produits semi-conducteurs (état le 1er juillet 2008)


231.21

Ordonnance sur la protection des topographies de produitssemi-conducteurs

(Ordonnance sur les topographies, OTo)

du 26 avril 1993 (Etat le 1er juillet 2008)

Le Conseil fédéral suisse,

vu les art. 2, al. 2, 12 et 18 de la loi du 9 octobre 1992 sur les topographies (LTo)1, vu l’art. 13 de la loi fédérale du 24 mars 1995 sur le statut et les tâches de l’Institut fédéral de la Propriété intellectuelle (LIPI)2,3

arrête:

Section 1 Dispositions générales

Art. 1 Compétence

1 L’exécution des tâches administratives découlant de la LTo et l’application de la présente ordonnance incombent à l’Institut fédéral de la Propriété intellectuelle (Institut).4

2 Toutefois, l’art. 12 LTo et les art. 16 à 19 de la présente ordonnance sont du ressort de l’Administration fédérale des douanes.

Art. 2 Langue

1 Les écrits adressés à l’Institut5 doivent être rédigés dans une langue officielle suisse.

2 Lorsque les documents remis à titre de preuve ne sont pas rédigés dans une langue officielle, l’Institut peut exiger, en impartissant un délai pour les produire, une traduction et une certification de conformité; en l’absence des pièces exigées, les documents remis à titre de preuve sont réputés ne pas avoir été produits.

RO 1993 1834 1

RS 231.2

2

RS 172.010.31 3 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 25 oct. 1995, en vigueur depuis le 1er janv. 1996(RO 1995 5156).4 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 25 oct. 1995, en vigueur depuis le 1er janv. 1996(RO 1995 5156).

5 Nouvelle expression selon le ch. I de l’O du 25 oct. 1995, en vigueur depuis le 1er janv. 1996 (RO 1995 5156). Il a été tenu compte de cette modification dans tout le présent texte.

231.21 Droit d’auteur

Art. 2a6 Signature

1 Les documents doivent être signés.

2 Lorsqu’un document n’est pas valablement signé, la date à laquelle celui-ci a été présenté est reconnue à condition qu’un document au contenu identique et signé soit fourni dans le délai d’un mois suivant l’injonction de l’Institut.

3 Il n’est pas obligatoire de signer la demande d’inscription au registre. L’Institut peut désigner d’autres documents qui ne doivent pas obligatoirement être signés.

Art. 2b7 Communication électronique

1 L’Institut peut autoriser la communication électronique.

2 Il détermine les modalités techniques et les publie de façon appropriée.

Art. 38 Taxes

L’ordonnance du 25 octobre 1995 sur les taxes de l’Institut fédéral de la Propriété intellectuelle9 s’applique aux taxes prévues par la LTo et par la présente ordonnance.

Section 2 Procédure de dépôt de la demande d’inscription

Art. 4 Pluralité de requérants

1 Lorsque plusieurs personnes demandent l’inscription d’une topographie, l’Institut peut exiger qu’elles désignent l’une d’elles ou une tierce personne pour assurer la représentation commune auprès de l’Institut.

2 Si, après injonction de l’Institut, aucun représentant n’a été désigné, la personne nommée la première dans la demande d’inscription assure la représentation commune.

Art. 5 Pièces d’identification

1 Les pièces nécessaires à l’identification et à la représentation concrète de la topographie sont les suivantes:

a.
dessins ou photographies de représentations (layouts) servant à fabriquer le produit semi-conducteur;
b.
dessins ou photographies de masques ou de parties de masques servant à fabriquer le produit semi-conducteur;
c.
dessins ou photographies de différentes couches du produit semi-conducteur.

6 Introduit par le ch. I de l’O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037).7 Introduit par le ch. I de l’O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037).8 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 25 oct. 1995, en vigueur depuis le 1er janv. 1996

(RO 1995 5156).9 [RO 1995 5174, 1997 773]. Voir actuellement le R du 28 avril 1997 sur les taxes de l’Institut Fédéral de la Propriété Intellectuelle (RS 232.148).

Topographies – O 231.21

2 En outre, des supports de données sur lesquels sont enregistrés des couches de la topographie sous une forme digitale ou leur tirage sur papier ainsi que le produit semi-conducteur lui-même peuvent également être déposés.

3 Les pièces doivent être produites en format A4 (21 × 29,7 cm) ou pliées à ce format. Les dessins, les plans ou les photographies de grande surface qui ne peuvent pas être pliées, doivent être déposés sous forme de rouleaux dont la longueur et le diamètre n’excèdent pas 1,5 m et 15 cm respectivement.

4 Dans la mesure où l’Institut accepte que les pièces d’identification lui soient remises par voie électronique (art. 2b), il peut définir des exigences qui s’écartent de celles énoncées dans le présent article; il publie celles-ci de façon appropriée.10

Art. 6 Demande d’inscription incomplète

1 L’Institut impartit un délai au déposant pour compléter sa demande d’inscription, lorsqu’elle est incomplète ou lacunaire.

2 L’Institut n’entre pas en matière lorsque la demande d’inscription n’a pas été rectifiée à l’expiration du délai.

Section 3 Registre des topographies

Art. 7 Contenu du registre L’Institut inscrit au registre les indications suivantes:

a.
le numéro d’enregistrement;
b.
la date de dépôt de la demande d’inscription;
c.
le nom ou la raison sociale ainsi que l’adresse du déposant ou de son successeur légal;
d.
le nom et l’adresse du producteur;
e.
la désignation de la topographie;
f.
la date et le lieu de l’éventuelle première mise en circulation commerciale de la topographie;
g.11
la date de la publication;
h.
le changement du domicile habituel ou de l’établissement commercial de l’ayant droit;
i.
les restrictions au pouvoir de disposition ordonnées par des tribunaux et des autorités chargées de l’exécution forcée;
k.
la date de la radiation.

10 Introduit par le ch. I de l’O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037). 11 Nouvelle teneur selon le ch. 1 de l’annexe à l’O du 8 mars 2002 sur les designs,

en vigueur depuis le 1er juillet 2002 (RS 232.121).

231.21 Droit d’auteur

Art. 8 Dossier

L’Institut tient un dossier pour chaque topographie.

Art. 9 Secret de fabrication et d’affaires

1 Les documents remis à titre de preuve qui divulguent des secrets de fabrication ou d’affaires sont, sur demande, classés séparément lorsqu’ils sont versés au dossier.

2 Les pièces servant à l’identification de la topographie, mentionnées à l’art. 5, ne peuvent pas être dans leur totalité classées séparément.

3 Le dossier fait état de l’existence des documents classés séparément.

4 Après avoir entendu les ayants droit inscrits au registre, l’Institut décide d’autoriser ou non la consultation des documents classés séparément.

Art. 10 Attestation

Une fois l’enregistrement effectué, l’Institut délivre une attestation correspondante.

Art. 1112 Publication

1 L’Institut publie les indications inscrites au registre.

2 Il détermine l’organe de publication.

3 Sur demande et contre indemnisation des frais, il établit des copies sur papier de données publiées exclusivement sous forme électronique.13

14

4

Art. 12 Modification et radiation d’inscriptions enregistrées

15

1 et 2

3 Les modifications découlant d’un jugement entré en force ou les restrictions au pouvoir de disposition ordonnées par des tribunaux et des autorités chargées de l’exécution forcée sont enregistrées sur présentation d’une copie du jugement et d’une attestation d’entrée en force.16

4 Les modifications sont versées au dossier, inscrites au registre et attestées par l’Institut.

17

5

12 Nouvelle teneur selon le ch. 1 de l’annexe à l’O du 8 mars 2002 sur les designs,

en vigueur depuis le 1er juillet 2002 (RS 232.121).13 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037).14 Abrogé par le ch. I de l’O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037).15 Abrogés par le ch. I de l’O du 18 oct. 2006, avec effet au 1er janv. 2007 (RO 2006 4477).16 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 18 oct. 2006, en vigueur depuis le 1er janv. 2007

(RO 2006 4477).17 Introduit par le ch. I de l’O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037). Abrogé par le ch. I de l’O du 18 oct. 2006, avec effet au 1er janv. 2007 (RO 2006 4477).

Topographies – O 231.21

Art. 13 Rectification

1 A la demande des ayants droit, les erreurs affectant l’enregistrement sont rectifiées sans retard.

2 Lorsque l’erreur est imputable à l’Institut, elle est rectifiée d’office.

Art. 1418 Extraits du registre

Sur demande, l’Institut établit des extraits du registre.

Art. 15 Conservation et restitution

1 L’Institut conserve les documents ainsi que les supports de données et les produits semi-conducteurs déposés pendant vingt ans à compter du dépôt de la demande d’inscription valable.

2 Les supports de données et les produits semi-conducteurs non réclamés à l’expiration du délai de conservation peuvent être restitués d’office. Lorsqu’il est impossible de trouver l’adresse des ayants droit, ils sont détruits en même temps que les documents.

Section 4 Intervention de l’Administration des douanes

Art. 1619 Domaine d’application

L’Administration des douanes est habilitée à intervenir en cas d’introduction sur le territoire douanier et de sortie dudit territoire de produits semi-conducteurs lorsqu’il y a lieu de soupçonner que la mise en circulation de ces produits contrevient à la législation suisse sur la protection des topographies de produits semi-conducteurs.

Art. 17 Demande d’intervention

1 Le producteur ou le preneur de licence ayant qualité pour agir (requérant) doit présenter la demande d’intervention à la Direction générale des douanes.20

2 La demande est valable deux ans à moins qu’elle ait été déposée pour une période plus courte. Elle peut être renouvelée.

18 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 18 oct. 2006, en vigueur depuis le 1er janv. 2007(RO 2006 4477).

19 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juillet 2008(RO 2008 2543).

20 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juillet 2008(RO 2008 2543).

231.21 Droit d’auteur

Art. 1821 Rétention de produits semi-conducteurs

1 Lorsque le bureau de douane retient des produits semi-conducteurs, il les garde en dépôt contre perception d’un émolument ou confie cette tâche à un tiers au frais du requérant.

2 Il transmet au requérant le nom et l’adresse du déclarant, du possesseur ou du propriétaire, une description précise et la quantité des produits semi-conducteurs retenus ainsi que le nom de l’expéditeur en Suisse ou à l’étranger desdits produits.

3 S’il s’avère, avant l’échéance des délais prévus à l’art. 77, al. 2 et 2bis de la loi du 9 octobre 1992 sur le droit d’auteur22, que le requérant ne pourra pas obtenir des mesures provisionnelles, le bureau de douane restitue les marchandises sans délai.

Art. 18a23 Echantillons

1 Le requérant peut présenter une demande pour solliciter la remise ou l’envoi d’échantillons à des fins d’examen ou l’inspection des produits semi-conducteurs retenus. Au lieu d’échantillons, l’Administration des douanes peut aussi lui remettre des photographies desdits produits semi-conducteurs si elles lui permettent d’effectuer cet examen.

2 Le requérant peut présenter cette demande à la Direction générale des douanes en même temps que la demande d’intervention ou, pendant la rétention des produits semi-conducteurs, directement au bureau de douane qui retient les produits semiconducteurs.

Art. 18b24 Protection des secrets de fabrication et d’affaires

1 L’Administration des douanes informe le déclarant, le possesseur ou le propriétaire des produits semi-conducteurs de la possibilité de refuser le prélèvement d’échantillons sur présentation d’une demande motivée. Elle lui impartit un délai raisonnable pour présenter cette demande.

2 Si l’Administration des douanes autorise le requérant à inspecter les produits semiconducteurs retenus, elle tient compte, pour fixer le moment de l’inspection, de manière appropriée des intérêts du requérant, d’une part, et de ceux du déclarant, du possesseur ou du propriétaire, d’autre part.

21 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juillet 2008(RO 2008 2543).

22

RS 231.1

23 Introduit par le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juillet 2008(RO 2008 2543).

24 Introduit par le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juillet 2008(RO 2008 2543).

Topographies – O 231.21

Art. 18c25 Conservation des moyens de preuve en cas de destruction des produits semi-conducteurs

1 L’Administration des douanes conserve les échantillons prélevés durant un an à compter de la communication adressée au déclarant, au possesseur ou au propriétaire conformément à l’art. 77, al. 1 de la loi du 9 octobre 1992 sur le droit d’auteur26. Après expiration de ce délai, elle invite le déclarant, le possesseur ou le propriétaire à reprendre possession des échantillons ou à supporter les frais pour la poursuite de leur conservation. Si le déclarant, le possesseur ou le propriétaire ne donne pas suite à cette invitation ou s’il ne fait pas connaître sa décision dans les 30 jours, l’Administration des douanes détruit les échantillons.

2 Au lieu de prélever des échantillons, l’Administration des douanes peut faire des photographies des produits semi-conducteurs détruits pour autant que cette mesure permette de garantir la conservation des moyens de preuve.

Art. 1927 Emoluments

Les émoluments perçus pour l’intervention de l’Administration des douanes sont fixés dans l’ordonnance du 4 avril 2007 sur les émoluments de l’Administration fédérale des douanes28.

Section 5 Entrée en vigueur

Art. 20

La présente ordonnance entre en vigueur le 1er juillet 1993.

25 Introduit par le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juillet 2008(RO 2008 2543).

26

RS 231.1 27 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juillet 2008(RO 2008 2543).

28

RS 631.035

231.21 Droit d’auteur