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Taller OMPI - OCDE sobre estadísticas en el ámbito de las patentes: Programa

Jueves el 18 de septiembre de 2003
8.30 Inscripción
9.00 Sesión de apertura - Alocución de bienvenida
Dr. F. Gurry
Sr. Andrew Wyckoff
9.20

Últimos adelantos en estadísticas de patentes

  • Presidente: Sr. Andrew Wyckoff, OCDE
La actividad inventiva en cifras: Hacia las estadísticas sobre inventores de patentes [ PDF] Dr. R. Tijssen
Medición y estimación del valor de la patente [ PDF] Sr. D. Harhoff
Las patentes y otros derechos de propiedad intelectual desde el punto de vista de los contratos de licencia [ PDF] Sr. S. Nagaoka
Estadísticas de patentes de la OCDE [ PDF] Sr. M. Khan
11.00 Pausa
11.30

Últimos adelantos en estadísticas de patentes
Los indicadores de patentes en el sistema estadístico europeo [ PDF] Sr. G. Strack
Debate
12.30

Familias de patentes

  • Presidente: Sr. Vladimir Yossifov, OMPI
Las familias de patentes triádicas en la OCDE [ ]
13.00 Almuerzo
15.00

Familias de patentes
Los datos y estadísticas sobre familias de patentes en la Oficina Europea de Patentes (OEP) [ PDF] Sr. P. Hingley
La familia de patentes Derwent y su aplicación en el análisis estadístico de las patentes [ PDF] Sra. D. Nanu
Debate
16.00  Pausa
16.30

Las patentes por ámbitos de tecnología

  • Presidente: Sr. Dominique Guellec, OCDE
De los documentos científicos a las patentes tecnológicas y el rendimiento financiero de las empresas: El papel fundamental de la calidad en las actividades de I+D [ PDF] Dr. F. Narin
Estrategias de búsqueda de patentes para el análisis estadístico estratégico [ PDF] Dr. U. Schmoch
Debate
18.00 Fin de la sesión
Viernes 19 de septiembre de 2003
9.00

Las patentes por ramas de la industria

  • Presidente: Sr. Marc Nicolas, OEP
Aspectos fundamentales de la reforma de la CIP [ PDF] Sr. M. Makarov
Definir (y vislumbrar) las ramas de la industria: Elaboración y utilización de las concordancias de patentes [ PDF] Sr. D. Johnson
Relación entre las esferas tecnológicas y los sectores industriales: Desarollo de una concordancia entre las clases de patentes y los códigos de sectores [ PDF] Sr. P. Patel
Revisión de la concordancia que se hace en la USPTO entre la clasificación de patentes de los Estados Unidos y los sistemas de clasificación industrial homologados [ PDF]  
Debate
10.30 Pausa
11.00

Previsiones de presentaciones de solicitudes de patente

  • Presidente: Sr. José Blanch, WIPO
Métodos para la previsión del número de solicitudes de patente en la Oficina Europea de Patentes (OEP) [ PDF] Sr. Marc Nicolas
Previsión de presentaciones de solicitudes de patente en la USPTO [ PDF] Sr. F. Joutz
Implantación en la OMPI de un método de previsión para las solicitudes del PCT [ PDF ] Sra. C. Dehon
Debate
12.30 Sesión de clausura: Evolución futura de las estadísticas de patentes
13.00 Fin de la sesión
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