Центр статистических данных по ИС
Центр статистических данных по ИС ВОИС — это бесплатный интернет-ресурс, обеспечивающий доступ к статистическим данным ВОИС по патентам, товарным знакам и промышленным образцам, а также информации об объемах использования системы PCT, Мадридской и Гаагской систем. Пользователи могут просматривать или скачивать данные в разбивке по разным показателям. Этот ресурс предназначен для специалистов в области ИС, исследователей и представителей директивных органов; ссылка на него размещена на веб-странице «Статистика в области ИС»: www.wipo.int/ipstats/ru/index.html.
Интерфейс Центра статистических данных по ИС переведен на английский, арабский, испанский, китайский, русский и французский языки.
Подборки статистических данных в области ИС по странам
Еще больше статистических данных, а также архивные данные о патентах, полезных моделях, товарных знаках и промышленных образцах можно найти на веб-страницах ВОИС, содержащих подборки статистических данных в области ИС по странам. Перейти к ним, как и к Центру статистических данных по ИС, можно через веб-страницу «Статистика в области ИС»: www.wipo.int/ru/web/ip-statistics.
Подборки статистических данных в области ИС по странам доступны на английском, арабском, испанском, китайском, русском и французском языках.