G | PHYSICS | |||||||||||||||||||||||||||||||
Note(s)
| ||||||||||||||||||||||||||||||||
INSTRUMENTS | ||||||||||||||||||||||||||||||||
G01 | MEASURING; TESTING | |||||||||||||||||||||||||||||||
Note(s) [7]
| ||||||||||||||||||||||||||||||||
G01R | MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES (indicating correct tuning of resonant circuits H03J 3/12) | |||||||||||||||||||||||||||||||
Note(s) [2006.01]
| ||||||||||||||||||||||||||||||||
| ||||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/00 | Details of instruments or arrangements of the types covered by groups G01R 5/00-G01R 13/00 or G01R 31/00 (constructional details particular to electromechanical arrangements for measuring the electric consumption G01R 11/02) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/02 | • General constructional details [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/04 | • • Housings; Supporting members; Arrangements of terminals [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/06 | • • Measuring leads; Measuring probes (G01R 19/145, G01R 19/165 take precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/067 | • • • Measuring probes [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/07 | • • • • Non contact-making probes [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/073 | • • • • Multiple probes [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/08 | • • Pointers; Scales, Scale illumination [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/10 | • • Arrangements of bearings [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/12 | • • • of strip or wire bearings [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/14 | • • Braking arrangements; Damping arrangements [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/16 | • • Magnets [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/18 | • • Screening arrangements against electric or magnetic fields, e.g. against earth's field [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/20 | • Modifications of basic electric elements for use in electric measuring instruments; Structural combinations of such elements with such instruments [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/22 | • • Tong testers acting as secondary windings of current transformers [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/24 | • • Transmission-line, e.g. waveguide, measuring sections, e.g. slotted section [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/26 | • • • with linear movement of probe [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/28 | • Provision in measuring instruments for reference values, e.g. standard voltage, standard waveform [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/30 | • Structural combination of electric measuring instruments with basic electronic circuits, e.g. with amplifier [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/36 | • Overload-protection arrangements or circuits for electric measuring instruments [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/38 | • Arrangements for altering the indicating characteristic, e.g. by modifying the air gap [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/40 | • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/42 | • • thermally operated [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 1/44 | • Modifications of instruments for temperature compensation [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 3/00 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 5/00 | Instruments for converting a single current or a single voltage into a mechanical displacement [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 5/02 | • Moving-coil instruments [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 5/04 | • • with magnet external to the coil [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 5/06 | • • with core magnet [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 5/08 | • • specially adapted for wide angle deflection; with eccentrically-pivoted moving coil [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 5/10 | • String galvanometers [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 5/12 | • Loop galvanometers [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 5/14 | • Moving-iron instruments [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 5/16 | • • with pivoting magnet [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 5/18 | • • with pivoting soft iron, e.g. needle galvanometer [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 5/20 | • Induction instruments e.g. Ferraris instruments [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 5/22 | • Thermoelectric instruments [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 5/24 | • • operated by elongation of a strip or wire or by expansion of a gas or fluid [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 5/26 | • • operated by deformation of a bimetallic element [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 5/28 | • Electrostatic instruments [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 5/30 | • • Leaf electrometers [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 5/32 | • • Wire electrometers; Needle electrometers [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 5/34 | • • Quadrant electrometers [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 7/00 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 7/02 | • for forming a sum or a difference [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 7/04 | • for forming a quotient (for measuring resistance G01R 27/08) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 7/06 | • • moving-iron type [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 7/08 | • • moving-coil type, e.g. crossed-coil type [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 7/10 | • • • having more than two moving coils [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 7/12 | • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 7/14 | • • moving-iron type [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 7/16 | • • having both fixed and moving coils, i.e. dynamometers [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 7/18 | • • • with iron core magnetically coupling fixed and moving coils [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 9/00 | Instruments employing mechanical resonance [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 9/02 | • Vibration galvanometers, e.g. for measuring current [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 9/04 | • using vibrating reeds, e.g. for measuring frequency [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 9/06 | • • magnetically driven [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 9/08 | • • piezo-electrically driven [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/00 | Electromechanical arrangements for measuring time integral of electric power or current, e.g. of consumption (monitoring electric consumption of electrically-propelled vehicles B60L 3/00) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/02 | • Constructional details [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/04 | • • Housings; Supporting racks; Arrangements of terminals [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/06 | • • Magnetic circuits of induction meters [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/067 | • • • Coils therefor [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/073 | • • • Armatures therefor [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/09 | • • • • Disc armatures [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/10 | • • Braking magnets; Damping arrangements [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/12 | • • Arrangements of bearings [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/14 | • • • with magnetic relief [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/16 | • • Adaptations of counters to electricity meters [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/17 | • • Compensating for errors; Adjusting or regulating means therefor [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/18 | • • • Compensating for variations in ambient conditions [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/185 | • • • • Temperature compensation [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/19 | • • • Compensating for errors caused by disturbing torque, e.g. rotating-field errors of polyphase meters [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/20 | • • • Compensating for phase errors in induction meters [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/21 | • • • Compensating for errors caused by damping effects of the current, e.g. adjustment in the overload range [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/22 | • • • Adjusting torque, e.g. adjusting starting torque, adjusting of polyphase meters for obtaining equal torques [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/23 | • • • Compensating for errors caused by friction, e.g. adjustment in the light-load range [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/24 | • • Arrangements for avoiding or indicating fraudulent use [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/25 | • • Arrangements for indicating or signalling faults [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
Note(s) [4]
| ||||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/30 | • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/32 | • • Watt-hour meters [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/34 | • • Ampère-hour meters [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/36 | • Induction meters, e.g. Ferraris meters [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/38 | • • for single-phase operation [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/40 | • • for polyphase operation [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/42 | • • • Circuitry therefor [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/46 | • Electrically-operated clockwork meters; Oscillatory meters; Pendulum meters [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/48 | • Meters specially adapted for measuring real or reactive components; Meters specially adapted for measuring apparent energy [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/50 | • • for measuring real component [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/52 | • • for measuring reactive component [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/54 | • • for measuring simultaneously at least two of the following three variables: real component, reactive component, apparent energy [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/56 | • Special tariff meters [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/57 | • • Multi-rate meters (G01R 11/63 takes precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/58 | • • • Tariff-switching devices therefor [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/60 | • • Subtraction meters; Meters measuring maximum or minimum-load hours [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/63 | • • Over-consumption meters, e.g. measuring consumption while a predetermined level of power is exceeded [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/64 | • • Maximum meters, e.g. tariff for a period is based on maximum demand within that period [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 11/66 | • • • Circuitry [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/00 | Arrangements for displaying electric variables or waveforms [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/02 | • for displaying measured electric variables in digital form [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/04 | • for producing permanent records [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/06 | • • Modifications for recording transient disturbances, e.g. by starting or accelerating a recording medium [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/08 | • • Electromechanical recording system using a mechanical direct-writing method [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/10 | • • • with intermittent recording by representing the variable by the length of a stroke or by the position of a dot [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/12 | • • Chemical recording, e.g. clydonographs (G01R 13/14 takes precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/14 | • • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/16 | • • Recording on a magnetic medium [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/18 | • • • using boundary displacement [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/20 | • Cathode-ray oscilloscopes [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/22 | • • Circuits therefor [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/24 | • • • Time-base deflection circuits [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/26 | • • • Circuits for controlling the intensity of the electron beam [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/28 | • • • Circuits for simultaneous or sequential presentation of more than one variable [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/30 | • • • Circuits for inserting reference markers, e.g. for timing, for calibrating, for frequency marking [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/32 | • • • Circuits for displaying non-recurrent functions such as transients; Circuits for triggering; Circuits for synchronisation; Circuits for time-base expansion [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/34 | • • • Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/36 | • using length of glow discharge, e.g. glowlight oscilloscopes [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/38 | • using the steady or oscillatory displacement of a light beam by an electromechanical measuring system [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/40 | • using modulation of a light beam otherwise than by mechanical displacement, e.g. by Kerr effect [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 13/42 | • Instruments using length of spark discharge, e.g. by measuring maximum separation of electrodes to produce spark [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 15/00 | Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R 17/00-G01R 29/00, G01R 33/00-G01R 33/26 or G01R 35/00 [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 15/04 | • Voltage dividers [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 15/06 | • • having reactive components, e.g. capacitive transformer [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 15/08 | • Circuits for altering the measuring range [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 15/09 | • • Autoranging circuits [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 15/12 | • Circuits for multi-testers, e.g. for measuring voltage, current, or impedance at will [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 15/14 | • Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 15/16 | • • using capacitive devices [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 15/18 | • • using inductive devices, e.g. transformers [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 15/20 | • • using galvano-magnetic devices, e.g. Hall-effect devices [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 15/22 | • • using light-emitting devices, e.g. LED, optocouplers [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 15/24 | • • using light-modulating devices [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 15/26 | • • using modulation of waves other than light, e.g. radio or acoustic waves [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 17/00 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 17/02 | • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 17/04 | • • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 17/06 | • • Automatic balancing arrangements [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 17/08 | • • • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 17/10 | • ac or dc measuring bridges [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 17/12 | • • using comparison of currents, e.g. bridges with differential current output [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 17/14 | • • with indication of measured value by calibrated null indicator, e.g. percent bridge, tolerance bridge (G01R 17/12, G01R 17/16 take precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 17/16 | • • with discharge tubes or semiconductor devices in one or more arms of the bridge, e.g. voltmeter using a difference amplifier [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 17/18 | • • with more than four branches [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 17/20 | • ac or dc potentiometric measuring arrangements [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 17/22 | • • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/00 | Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof (G01R 5/00 takes precedence; for measuring bioelectric currents or voltages A61B 5/04) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
Note(s) [3]
| ||||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/02 | • Measuring effective values, i.e. root-mean-square values [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/03 | • • using thermoconverters [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/04 | • Measuring peak values of ac or of pulses [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/06 | • Measuring real component; Measuring reactive component [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/08 | • Measuring current density [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/10 | • Measuring sum, difference, or ratio [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/12 | • Measuring rate of change [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/14 | • Indicating direction of current; Indicating polarity of voltage [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/145 | • Indicating the presence of current or voltage [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/15 | • • Indicating the presence of current [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/155 | • • Indicating the presence of voltage [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/165 | • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/17 | • • giving an indication of the number of times this occurs [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/175 | • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/18 | • using conversion of dc into ac, e.g. with choppers [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/20 | • • using transductors [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/22 | • using conversion of ac into dc [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/25 | • using digital measurement techniques [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/252 | • • using analogue/digital converters of the type with conversion of voltage or current into frequency and measuring of this frequency [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/255 | • • using analogue/digital converters of the type with counting of pulses during a period of time proportional to voltage or current, delivered by a pulse generator with fixed frequency [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/257 | • • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/28 | • adapted for measuring in circuits having distributed constants [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/30 | • Measuring the maximum or the minimum value of current or voltage reached in a time interval (G01R 19/04 takes precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 19/32 | • Compensating for temperature change [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 21/00 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 21/01 | • in circuits having distributed constants (G01R 21/04, G01R 21/07, G01R 21/09, G01R 21/12 take precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 21/02 | • by thermal methods [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 21/04 | • • in circuits having distributed constants [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 21/06 | • by measuring current and voltage (G01R 21/08-G01R 21/133 take precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 21/07 | • • in circuits having distributed constants (G01R 21/09 takes precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 21/08 | • by using galvanomagnetic-effect devices, e.g. Hall-effect devices [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 21/09 | • • in circuits having distributed constants [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 21/10 | • by using square-law characteristics of circuit elements, e.g. diodes, to measure power absorbed by loads of known impedance (G01R 21/02 takes precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 21/12 | • • in circuits having distributed constants [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 21/127 | • by using pulse modulation (G01R 21/133 takes precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 21/133 | • by using digital technique [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 21/14 | • Compensating for temperature change [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 22/00 | Arrangements for measuring time integral of electric power or current, e.g. electricity meters [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
Note(s) [4]
| ||||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 22/02 | • by electrolytic methods [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 22/04 | • by calorimetric methods [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 22/06 | • by electronic methods [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 22/08 | • • using analogue techniques [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 22/10 | • • using digital techniques [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/00 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/02 | • Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/04 | • • adapted for measuring in circuits having distributed constants [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/06 | • • by converting frequency into an amplitude of current or voltage [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/07 | • • • using response of circuits tuned on resonance, e.g. grid-drip meter [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/08 | • • • using response of circuits tuned off resonance [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/09 | • • • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/10 | • • by converting frequency into a train of pulses, which are then counted [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/12 | • • by converting frequency into phase shift [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/14 | • • by heterodyning; by beat-frequency comparison [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/15 | • • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/16 | • Spectrum analysis; Fourier analysis [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/163 | • • adapted for measuring in circuits having distributed constants [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/165 | • • using filters [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/167 | • • • with digital filters [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/17 | • • with optical auxiliary devices [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/173 | • • Wobbulating devices similar to swept panoramic receivers [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/175 | • • by delay means, e.g. tapped delay lines [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/177 | • • Analysis of very low frequencies [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/18 | • • with provision for recording frequency spectrum [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 23/20 | • • Measurement of non-linear distortion [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 25/00 | Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 25/02 | • in circuits having distributed constants [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 25/04 | • involving adjustment of a phase shifter to produce a predetermined phase difference, e.g. zero difference [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 25/06 | • employing quotient instrument [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 25/08 | • by counting of standard pulses [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 27/00 | Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 27/02 | • Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant (by measuring phase angle only G01R 25/00) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 27/04 | • • in circuits having distributed constants [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 27/06 | • • • Measuring reflection coefficients; Measuring standing-wave ratio [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 27/08 | • • Measuring resistance by measuring both voltage and current [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 27/10 | • • • using two-coil or crossed-coil instruments forming quotient [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 27/12 | • • • • using hand generators, e.g. meggers [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 27/14 | • • Measuring resistance by measuring current or voltage obtained from a reference source (G01R 27/16, G01R 27/20, G01R 27/22 take precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 27/16 | • • Measuring impedance of element or network through which a current is passing from another source, e.g. cable, power line [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 27/18 | • • • Measuring resistance to earth [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 27/20 | • • Measuring earth resistance; Measuring contact resistance of earth connections, e.g. plates [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 27/22 | • • Measuring resistance of fluids [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 27/26 | • • Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 27/28 | • Measuring attenuation, gain, phase shift, or derived characteristics of electric four-pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response (in line transmission systems H04B 3/46) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 27/30 | • • with provision for recording characteristics, e.g. by plotting Nyquist diagram [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 27/32 | • • in circuits having distributed constants [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 29/00 | Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R 19/00-G01R 27/00 [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 29/02 | • Measuring characteristics of individual pulses, e.g. deviation from pulse flatness, rise time or duration [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 29/027 | • • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 29/033 | • • • giving an indication of the number of times this occurs [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 29/04 | • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 29/06 | • Measuring depth of modulation [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 29/08 | • Measuring electromagnetic field characteristics [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 29/10 | • • Radiation diagrams of aerials [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 29/12 | • Measuring electrostatic fields [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 29/14 | • • Measuring field distribution [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 29/16 | • Measuring asymmetry of polyphase networks [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 29/18 | • Indicating phase sequence; Indicating synchronism [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 29/20 | • Measuring number of turns; Measuring transformation ratio or coupling factor of windings [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 29/22 | • Measuring piezo-electric properties [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 29/24 | • Arrangements for measuring quantities of charge [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 29/26 | • Measuring noise figure; Measuring signal-to-noise ratio [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/00 | Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere (testing or measuring semiconductors or solid state devices during manufacture H01L 21/66; testing line transmission systems H04B 3/46) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/01 | • Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station (G01R 31/18 takes precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/02 | • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/04 | • • Testing connections, e.g. of plugs, of non-disconnectable joints [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/06 | • • Testing of electric windings, e.g. for polarity [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/07 | • • Testing of fuses [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/08 | • Locating faults in cables, transmission lines, or networks [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/10 | • • by increasing destruction at fault, e.g. burning-in by using a pulse generator operating a special programme [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/11 | • • using pulse-reflection methods [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/12 | • Testing dielectric strength or breakdown voltage [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/14 | • • Circuits therefor [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/16 | • • Construction of testing vessels; Electrodes therefor [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/18 | • • Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/20 | • • Preparation of articles or specimens to facilitate testing [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/24 | • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/25 | • • Testing of vacuum tubes [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/26 | • Testing of individual semiconductor devices (testing or measuring during manufacture or treatment H01L 21/66; testing of photovoltaic devices H02S 50/10) [2014.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/265 | • • Contactless testing [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/27 | • • Testing of devices without physical removal from the circuit of which they form part, e.g. compensating for effects due to surrounding elements [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/28 | • Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer (testing computers during standby operation or idle time G06F 11/22) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/30 | • • Marginal testing, e.g. by varying supply voltage (testing computers during standby operation or idle time G06F 11/22) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/302 | • • Contactless testing [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/303 | • • • of integrated circuits (G01R 31/305-G01R 31/315 take precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/304 | • • • of printed or hybrid circuits (G01R 31/305-G01R 31/315 take precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/305 | • • • using electron beams [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/306 | • • • • of printed or hybrid circuits [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/307 | • • • • of integrated circuits [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/308 | • • • using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/309 | • • • • of printed or hybrid circuits [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/311 | • • • • of integrated circuits [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/312 | • • • by capacitive methods [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/315 | • • • by inductive methods [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/316 | • • Testing of analog circuits [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/3161 | • • • Marginal testing [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/3163 | • • • Functional testing [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/3167 | • • Testing of combined analog and digital circuits [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/317 | • • Testing of digital circuits [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/3173 | • • • Marginal testing [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/3177 | • • • Testing of logic operation, e.g. by logic analysers [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/3181 | • • • Functional testing (G01R 31/3177 takes precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/3183 | • • • • Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/3185 | • • • • Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/3187 | • • • • Built-in tests [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/319 | • • • • Tester hardware, i.e. output processing circuits [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/3193 | • • • • • with comparison between actual response and known fault-free response [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/327 | • Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/333 | • • Testing of the switching capacity of high-voltage circuit-breakers [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/34 | • Testing dynamo-electric machines [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/36 | • Apparatus for testing electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or charge condition (accumulators combined with arrangements for measuring, testing or indicating condition H01M 10/48) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/40 | • Testing power supplies (testing photovoltaic devices H02S 50/10) [2014.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/42 | • • AC power supplies [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 31/44 | • Testing lamps [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/00 | Arrangements or instruments for measuring magnetic variables [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/02 | • Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux (G01R 33/20 takes precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/022 | • • Measuring gradient [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
• Note(s)
| ||||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/025 | • • Compensating stray fields [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/028 | • • Electrodynamic magnetometers [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/032 | • • using magneto-optic devices, e.g. Faraday [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/035 | • • using superconductive devices [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/038 | • • using permanent magnets, e.g. balances, torsion devices [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/04 | • • using the flux-gate principle [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/05 | • • • in thin-film element [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/06 | • • using galvano-magnetic devices [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/07 | • • • Hall-effect devices [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/09 | • • • Magneto-resistive devices [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/10 | • • Plotting field distribution [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/12 | • Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids (involving magnetic resonance G01R 33/20) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/14 | • • Measuring or plotting hysteresis curves [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/16 | • • Measuring susceptibility [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/18 | • • Measuring magnetostrictive properties [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/20 | • involving magnetic resonance (medical aspects A61B 5/055; magnetic resonance gyrometers G01C 19/60) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/24 | • • for measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/26 | • • • using optical pumping [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/28 | • • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/30 | • • • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/31 | • • • • Temperature control thereof [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/32 | • • • Excitation or detection systems, e.g. using radiofrequency signals [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/34 | • • • • Constructional details, e.g. resonators [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/341 | • • • • • comprising surface coils [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/3415 | • • • • • • comprising arrays of sub-coils [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/343 | • • • • • of slotted-tube or loop-gap type [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/345 | • • • • • of waveguide type (G01R 33/343 takes precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/36 | • • • • Electrical details, e.g. matching or coupling of the coil to the receiver [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/38 | • • • Systems for generation, homogenisation or stabilisation of the main or gradient magnetic field [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
• • • Note(s) [6]
| ||||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/381 | • • • • using electromagnets [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/3815 | • • • • • with superconducting coils, e.g. power supply therefor [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/383 | • • • • using permanent magnets [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/385 | • • • • using gradient magnetic field coils [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/387 | • • • • Compensation of inhomogeneities [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/3873 | • • • • • using ferromagnetic bodies [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/3875 | • • • • • using correction coil assemblies, e.g. active shimming [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/389 | • • • • Field stabilisation [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/42 | • • • Screening [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/421 | • • • • of main or gradient magnetic field [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/422 | • • • • of the radiofrequency field [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/44 | • • using nuclear magnetic resonance [NMR] (G01R 33/24, G01R 33/62 take precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/46 | • • • NMR spectroscopy [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/465 | • • • • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/48 | • • • NMR imaging systems [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/483 | • • • • with selection of signal or spectra from particular regions of the volume, e.g. in vivo spectroscopy [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/485 | • • • • • based on chemical shift information [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/50 | • • • • based on the determination of relaxation times [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/54 | • • • • Signal processing systems, e.g. using pulse sequences [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/56 | • • • • • Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/561 | • • • • • • by reduction of the scanning time, i.e. fast acquiring systems, e.g. using echo-planar pulse sequences [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/563 | • • • • • • | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/565 | • • • • • • Correction of image distortions, e.g. due to magnetic field inhomogeneities [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/567 | • • • • • • gated by physiological signals [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/58 | • • • • Calibration of imaging systems, e.g. using test probes [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/60 | • • using electron paramagnetic resonance (G01R 33/24, G01R 33/62 take precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/62 | • • using double resonance (G01R 33/24 takes precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 33/64 | • • using cyclotron resonance (G01R 33/24 takes precedence) [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 35/00 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 35/02 | • of auxiliary devices, e.g. of instrument transformers according to prescribed transformation ratio, phase angle, or wattage rating [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 35/04 | • of instruments for measuring time integral of power or current [2006.01] | |||||||||||||||||||||||||||||||
G01R 35/06 | • • by stroboscopic methods [2006.01] |