عن الملكية الفكرية التدريب في مجال الملكية الفكرية إذكاء الاحترام للملكية الفكرية التوعية بالملكية الفكرية الملكية الفكرية لفائدة… الملكية الفكرية و… الملكية الفكرية في… معلومات البراءات والتكنولوجيا معلومات العلامات التجارية معلومات التصاميم معلومات المؤشرات الجغرافية معلومات الأصناف النباتية (الأوبوف) القوانين والمعاهدات والأحكام القضائية المتعلقة بالملكية الفكرية مراجع الملكية الفكرية تقارير الملكية الفكرية حماية البراءات حماية العلامات التجارية حماية التصاميم حماية المؤشرات الجغرافية حماية الأصناف النباتية (الأوبوف) تسوية المنازعات المتعلقة بالملكية الفكرية حلول الأعمال التجارية لمكاتب الملكية الفكرية دفع ثمن خدمات الملكية الفكرية هيئات صنع القرار والتفاوض التعاون التنموي دعم الابتكار الشراكات بين القطاعين العام والخاص أدوات وخدمات الذكاء الاصطناعي المنظمة العمل في الويبو المساءلة البراءات العلامات التجارية التصاميم المؤشرات الجغرافية حق المؤلف الأسرار التجارية مستقبل الملكية الفكرية أكاديمية الويبو الندوات وحلقات العمل إنفاذ الملكية الفكرية WIPO ALERT إذكاء الوعي اليوم العالمي للملكية الفكرية مجلة الويبو دراسات حالة وقصص ناجحة في مجال الملكية الفكرية أخبار الملكية الفكرية جوائز الويبو الأعمال الجامعات الشعوب الأصلية الأجهزة القضائية الشباب الفاحصون الأنظمة الإيكولوجية للابتكار الاقتصاد التمويل الأصول غير الملموسة المساواة بين الجنسين الصحة العالمية تغير المناخ سياسة المنافسة أهداف التنمية المستدامة الموارد الوراثية والمعارف التقليدية وأشكال التعبير الثقافي التقليدي التكنولوجيات الحدودية التطبيقات المحمولة الرياضة السياحة الموسيقى الأزياء ركن البراءات تحليلات البراءات التصنيف الدولي للبراءات أَردي – البحث لأغراض الابتكار أَسبي – معلومات متخصصة بشأن البراءات قاعدة البيانات العالمية للعلامات مرصد مدريد قاعدة بيانات المادة 6(ثالثاً) تصنيف نيس تصنيف فيينا قاعدة البيانات العالمية للتصاميم نشرة التصاميم الدولية قاعدة بيانات Hague Express تصنيف لوكارنو قاعدة بيانات Lisbon Express قاعدة البيانات العالمية للعلامات الخاصة بالمؤشرات الجغرافية قاعدة بيانات الأصناف النباتية (PLUTO) قاعدة بيانات الأجناس والأنواع (GENIE) المعاهدات التي تديرها الويبو ويبو لكس - القوانين والمعاهدات والأحكام القضائية المتعلقة بالملكية الفكرية معايير الويبو إحصاءات الملكية الفكرية ويبو بورل (المصطلحات) منشورات الويبو البيانات القطرية الخاصة بالملكية الفكرية مركز الويبو للمعارف أبرز الاستثمارات غير الملموسة في العالم الاتجاهات التكنولوجية للويبو مؤشر الابتكار العالمي التقرير العالمي للملكية الفكرية معاهدة التعاون بشأن البراءات – نظام البراءات الدولي ePCT بودابست – نظام الإيداع الدولي للكائنات الدقيقة مدريد – النظام الدولي للعلامات التجارية eMadrid الحماية بموجب المادة 6(ثالثاً) (الشعارات الشرفية، الأعلام، شعارات الدول) لاهاي – النظام الدولي للتصاميم eHague لشبونة – النظام الدولي لتسميات المنشأ والمؤشرات الجغرافية eLisbon UPOV PRISMA الوساطة التحكيم قرارات الخبراء المنازعات المتعلقة بأسماء الحقول نظام النفاذ المركزي إلى نتائج البحث والفحص (CASE) خدمة النفاذ الرقمي (DAS) WIPO Pay الحساب الجاري لدى الويبو جمعيات الويبو اللجان الدائمة الجدول الزمني للاجتماعات WIPO Webcast وثائق الويبو الرسمية أجندة التنمية المساعدة التقنية مؤسسات التدريب في مجال الملكية الفكرية صندوق إعادة البناء الاستراتيجيات الوطنية للملكية الفكرية المساعدة في مجالي السياسة والتشريع محور التعاون مراكز دعم التكنولوجيا والابتكار نقل التكنولوجيا برنامج مساعدة المخترعين WIPO GREEN WIPO's PAT-INFORMED اتحاد الكتب الميسّرة اتحاد الويبو للمبدعين WIPO Translate أداة تحويل الكلام إلى نص مساعد التصنيف الدول الأعضاء المراقبون المدير العام الأنشطة بحسب كل وحدة المكاتب الخارجية مناصب الموظفين مناصب الموظفين المنتسبين المشتريات النتائج والميزانية التقارير المالية الرقابة
Arabic English Spanish French Russian Chinese
القوانين المعاهدات الأحكام التصفح بحسب الاختصاص القضائي

سويسرا

CH441

عودة للخلف

Ordinanza del 21 maggio 2008 che modifica l'Ordinanza del 26 april 1993 sulla protezione delle topografie di prodotti a semiconduttori

 Ordinanza del 21 maggio 2008 che modifica l'Ordinanza sulla protezione delle topografie di prodotti a semiconduttori RU 2008 2543

I

Ordinanza sulla protezione delle topografie di prodotti a semiconduttori (Ordinanza sulle topografie, OTo)

Modifica del 21 maggio 2008

Il Consiglio federale svizzero, ordina:

L’ordinanza sulle topografie del 26 aprile 19931 è modificata come segue:

Art. 16 Campo d’applicazione L’Amministrazione federale delle dogane è abilitata a intervenire in caso di introdu­ zione sul territorio doganale e all’asportazione da esso di prodotti a semiconduttori in merito ai quali esiste il sospetto che la messa in circolazione violi la legislazione vigente in Svizzera relativa alla protezione di topografie di prodotti a semicondut­ tori.

Art. 17 cpv. 1 1 I produttori o i titolari di una licenza legittimati ad agire (richiedenti) devono presentare la domanda d’intervento alla Direzione generale delle dogane.

Art. 18 Ritenzione di prodotti a semiconduttori 1 In caso di ritenzione di prodotti a semiconduttori, l’ufficio doganale li custodisce esso stesso contro pagamento di una tassa oppure li fa custodire da terzi a spese del richiedente. 2 L’ufficio doganale comunica al richiedente il nome e l’indirizzo del depositante, del detentore o del proprietario, una descrizione precisa, la quantità e il nome del mittente in Svizzera o all’estero dei prodotti a semiconduttori ritenuti. 3 Se già prima della scadenza del termine giusta l’articolo 77 capoverso 2, rispetti­ vamente 2bis della legge del 9 ottobre 19922 sul diritto d’autore è chiaro che il richiedente non può ottenere provvedimenti cautelari, l’ufficio doganale libera immediatamente i prodotti a semiconduttori.

1 RS 231.21 2 RS 231.1

2008-0673 2543

Ordinanza sulle topografie RU 2008

Art. 18a Campioni 1 Il richiedente può chiedere la consegna o l’invio di campioni a scopo di esame oppure può chiedere di ispezionare i prodotti a semiconduttori ritenuti. Invece di campioni l’Amministrazione delle dogane può trasmettere al richiedente fotografie dei prodotti a semiconduttori ritenuti, se queste ne consentono l’esame. 2 La richiesta può essere presentata insieme alla domanda d’intervento alla Direzione generale delle dogane o, durante la ritenzione dei prodotti a semiconduttori, diretta­ mente all’ufficio doganale che trattiene i prodotti a semiconduttori.

Art. 18b Tutela dei segreti di fabbricazione e di affari 1 L’Amministrazione delle dogane informa il depositante, il detentore o il proprieta­ rio dei prodotti a semiconduttori della possibilità di presentare una richiesta motivata per rifiutare il prelievo di campioni. Per l’inoltro della richiesta essa stabilisce un termine adeguato. 2 Qualora l’Amministrazione delle dogane consenta al richiedente di ispezionare i prodotti a semiconduttori ritenuti, per stabilire il momento dell’esame tiene conto in maniera adeguata degli interessi del richiedente e del depositante, del detentore o del proprietario.

Art. 18c Conservazione dei mezzi di prova in caso di distruzione dei prodotti a semiconduttori

1 L’Amministrazione delle dogane trattiene i campioni prelevati per un periodo di un anno dalla notifica del depositante, del detentore o del proprietario in virtù dell’ar­ ticolo 77 capoverso 1 della legge del 9 ottobre 19923 sul diritto d’autore. Allo scade­ re di tale termine l’Amministrazione delle dogane invita il depositante, il detentore o il proprietario a prendere in custodia i campioni, oppure ad assumere i costi per la conservazione ulteriore. Qualora il depositante, il detentore o il proprietario non sia disposto a prendere in custodia i campioni oppure ad assumere i costi per la conser­ vazione ulteriore, o se non si esprime entro 30 giorni, l’Amministrazione delle dogane distrugge i campioni. 2 Invece di prelevare campioni l’Amministrazione delle dogane può fotografare i prodotti a semiconduttori distrutti, a condizione che ciò consenta di garantire la conservazione dei mezzi di prova.

Art. 19 Emolumenti Gli emolumenti per l’intervento dell’Amministrazione delle dogane sono retti dall’ordinanza del 4 aprile 20074 sugli emolumenti dell’Amministrazione federale delle dogane.

3 RS 231.1 4 RS 631.035

2544

II

Ordinanza sulle topografie RU 2008

La presente modifica entra in vigore il 1° luglio 2008.

21 maggio 2008 In nome del Consiglio federale svizzero:

Il presidente della Confederazione, Pascal Couchepin La cancelliera della Confederazione, Corina Casanova

2545

Ordinanza sulle topografie RU 2008

2546