Отчеты о патентных ландшафтах

В отчетах о патентных ландшафтах (ОПЛ) рассматривается текущая патентная ситуация в сфере той или иной технологии в отдельно взятой стране, регионе или в мире. ОПЛ могут  влиять на обсуждение вопросов профильной политики, планирование стратегических исследований или передачу технологии. Они также могут использоваться для анализа действительности патентов благодаря содержащейся в них информации о правовом статусе охранных документов.

Составление ОПЛ начинается с проведения поиска в отобранных базах патентных данных для установления известного уровня техники в области соответствующей технологии. Затем результаты поиска анализируются для того, чтобы ответить на конкретные вопросы относительно характера патентной деятельности или инноваций и т.д. Для облегчения понимания результаты представляются визуально, а выводы и рекомендации основываются на эмпирических сведениях.

Тенденции развития технологий: ассистивные технологии

Доклад ВОИС из серии «Тенденции развития технологий» за 2021 г. является первым крупномасштабным обобщением и анализом информации о патентных и технологических тенденциях в сфере АТ.

Скачать

 

Отчеты о патентных ландшафтах ВОИС

В рамках проекта «Разработка инструментов для доступа к патентной информации», являющегося частью Повестки дня в области развития, ВОИС было поручено составлять отчеты о патентных ландшафтах в областях, представляющих особый интерес для развивающихся и наименее развитых стран, таких как общественное здравоохранение, продовольственная безопасность, изменение климата и охрана окружающей среды.

Отчеты о патентных ландшафтах ВОИС: иллюстрации

Руководящие принципы составления ОПЛ

Руководящие принципы составления отчетов о патентных ландшафтах

Подробная инструкция по составлению ОПЛ, а также справочная информация с описанием целей, методов патентного анализа, концепций, общих принципов и т.д.

Руководство по инструментам патентного анализа из открытых источников

Руководство ВОИС по инструментам патентного анализа из открытых источников содержит информацию и пошаговую инструкцию, разъясняющую порядок выполнения различных видов патентного анализа с использованием многочисленных инструментов с открытым исходным кодом.