Об интеллектуальной собственности Обучение в области ИС Информационно-просветительская работа в области ИС ИС для ИС и ИС в области Информация о патентах и технологиях Информация о товарных знаках Информация о промышленных образцах Информация о географических указаниях Информация о новых сортах растений (UPOV) Законы, договоры и судебные решения в области ИС Ресурсы в области ИС Отчеты в области ИС Патентная охрана Охрана товарных знаков Охрана промышленных образцов Охрана географических указаний Охрана новых сортов растений (UPOV) Разрешение споров в области ИС Деловые решения для ведомств ИС Оплата услуг в области ИС Органы по ведению переговоров и директивные органы Сотрудничество в целях развития Поддержка инновационной деятельности Государственно-частные партнерства Организация Работа с ВОИС Подотчетность Патенты Товарные знаки Промышленные образцы Географические указания Авторское право Коммерческая тайна Академия ВОИС Практикумы и семинары Международный день ИС Журнал ВОИС Повышение осведомленности Тематические исследования и истории успеха Новости ИС Премии ВОИС Бизнеса Университетов Коренных народов Судебных органов Генетические ресурсы, традиционные знания и традиционные выражения культуры Экономика Гендерное равенство Глобальное здравоохранение Изменение климата Политика в области конкуренции Цели в области устойчивого развития Защита прав Передовых технологий Мобильных приложений Спорта Туризма PATENTSCOPE Патентная аналитика Международная патентная классификация ARDI – исследования в интересах инноваций ASPI – специализированная патентная информация Глобальная база данных по брендам Madrid Monitor База данных Article 6ter Express Ниццкая классификация Венская классификация Глобальная база данных по образцам Бюллетень международных образцов База данных Hague Express Локарнская классификация База данных Lisbon Express Глобальная база данных по ГУ База данных о сортах растений PLUTO База данных GENIE Договоры, административные функции которых выполняет ВОИС WIPO Lex – законы, договоры и судебные решения в области ИС Стандарты ВОИС Статистика в области ИС WIPO Pearl (терминология) Публикации ВОИС Страновые справки по ИС Центр знаний ВОИС Серия публикаций ВОИС «Тенденции в области технологий» Глобальный инновационный индекс Доклад о положении в области интеллектуальной собственности в мире PCT – международная патентная система Портал ePCT Будапештская система – международная система депонирования микроорганизмов Мадридская система – международная система товарных знаков Портал eMadrid Справочная страница портала eMadrid Cтатья 6ter (гербы, флаги, эмблемы) Гаагская система – система международной регистрации образцов Портал eHague Лиссабонская система – международная система географических указаний Портал eLisbon UPOV PRISMA Посредничество Арбитраж Вынесение экспертных заключений Споры по доменным именам Система централизованного доступа к результатам поиска и экспертизы (CASE) Служба цифрового доступа (DAS) WIPO Pay Текущий счет в ВОИС Ассамблеи ВОИС Постоянные комитеты График заседаний Официальные документы ВОИС Повестка дня в области развития Техническая помощь Учебные заведения в области ИС Поддержка в связи с COVID-19 Национальные стратегии в области ИС Помощь в вопросах политики и законодательной деятельности Центр сотрудничества Центры поддержки технологий и инноваций (ЦПТИ) Передача технологий Программа содействия изобретателям (IAP) WIPO GREEN PAT-INFORMED ВОИС Консорциум доступных книг Консорциум «ВОИС для авторов» WIPO ALERT Государства-члены Наблюдатели Генеральный директор Деятельность в разбивке по подразделениям Внешние бюро Вакансии Закупки Результаты и бюджет Финансовая отчетность Надзор

Патентный анализ

Патентный анализ позволяет раскрыть неочевидные закономерности и модели инновационной деятельности в той или иной сфере или области техники путем изучения патентной информации. Получаемые в результате фактологические и эмпирически обоснованные данные позволяют организациям принимать более взвешенные стратегические решения в отношении научных исследований и опытно-конструкторских разработок, инновационного курса, коммерциализации и лицензирования ИС, совместных исследований и т.д.

Нередко патентный анализ включает несколько этапов: сбор данных, их оценку и поиск закономерностей и представление результатов.

Главное

patent-landscape-report-covid19-845

Представлен Отчет ВОИС о патентном ландшафте «Вакцины и терапевтические средства, связанные с COVID-19»

Анализ соответствующей патентной деятельности в ходе пандемии

Смотреть запись мероприятия

Отчеты с заключениями патентного анализа

an image of an electric car being charged symbolizing patent trends on green technology

Отчеты о патентных ландшафтах

В отчетах ВОИС о патентных ландшафтах приводится обзор патентной деятельности в определенной области техники на примере страны или региона или на глобальном рынке. Эти отчеты могут служить источником информации в рамках обсуждения профильной политики, перспективного планирования исследований или передачи технологий. Они также могут использоваться для анализа действительности патентов на основе информации об их правовом статусе.

an image of the latest WIPO technology trends report

Серия публикаций ВОИС «Тенденции развития технологий»

Публикации из этой серии не ограничиваются патентной информацией: они включают ряд других данных, мнения экспертов и анализ конкретных примеров с целью предложить читателям убедительные, фактологические доводы в отношении инновационной деятельности в конкретных областях. Получаемые из них знания служат пищей для размышления и помогают руководителям компаний, ученым-исследователям и представителям директивных органов принимать решения.

an image of tools and cogs as a symbol of practical use of patent information

Другие отчеты

Подборка отчетов о патентных ландшафтах, опубликованных другими организациями и ведомствами ИС (многие из них доступны бесплатно). Поиск проводится по названию отчета, ключевым словам, стране-составителю и языку публикации.

Принципы патентного анализа

Хотите узнать, как проводить патентный анализ? Посетите Справочно-ресурсную службу ВОИС, на которой размещены учебные материалы по патентной аналитике, или скачайте представленные ниже самые популярные тематические публикации и начните самостоятельное изучение.

Руководящие принципы составления отчетов о патентных ландшафтах

В этой публикации указаны все этапы создания качественного отчета о патентном ландшафте, включая передовую практику и отраслевые стандарты.

Справочник по патентному анализу

Скачайте Справочник ВОИС по патентному анализу. С его помощью вы откроете для себя передовые методы патентного анализа и узнаете о навыках и инструментах, которыми пользуются патентные аналитики в повседневной работе.

Руководство по инструментам патентного анализа из открытых источников

Новейшие общедоступные открытые инструменты, которые можно использовать для патентного анализа: базы данных, средства визуализации и методы использования языков программирования.

Ссылки по теме

Об ИС

Патентно-технологическая информация

Сотрудничество и политика

https://www3.wipo.int/contact/ru/ https://www.wipo.int/pressroom/ru/ https://www.wipo.int/tools/ru/disclaim.html https://www.wipo.int/en/web/privacy-policy/ https://www.wipo.int/accessibility/ru/ https://www.wipo.int/tools/ru/sitemap.html https://www3.wipo.int/newsletters/ru/ https://www.wipo.int/podcasts/ru/ https://www.wipo.int/news/ru/