Topic 1: Challenges and Options in Patent Examination

Индекс документаOMPI/PI/YAO/13/WWW/228403
Мероприятия по темеOMPI/PI/YAO/13
Дата публикации21 января 2013 г.
EnglishTopic 1: Challenges and Options in Patent Examination

Mr. Lutz Mailänder, Head, Patent Information Section, Global Information Service, Global Infrastructure Sector, WIPO

Полная версия документа
Topic 1: Challenges and Options in Patent Examination, single (pdf)
185 KB