Topic 1: Challenges and Options in Patent Examination

رمز الوثيقةOMPI/PI/YAO/13/WWW/228403
الاجتماعات ذات الصلةOMPI/PI/YAO/13
تاريخ النشر21 يناير 2013
EnglishTopic 1: Challenges and Options in Patent Examination

Mr. Lutz Mailänder, Head, Patent Information Section, Global Information Service, Global Infrastructure Sector, WIPO

الوثيقة الكاملة
Topic 1: Challenges and Options in Patent Examination, single (pdf)
185 KB