À propos de la propriété intellectuelle Formation en propriété intellectuelle Sensibilisation à la propriété intellectuelle La propriété intellectuelle pour… Propriété intellectuelle et… Propriété intellectuelle et… Information relative aux brevets et à la technologie Information en matière de marques Information en matière de dessins et modèles industriels Information en matière d’indications géographiques Information en matière de protection des obtentions végétales (UPOV) Lois, traités et jugements dans le domaine de la propriété intellectuelle Ressources relatives à la propriété intellectuelle Rapports sur la propriété intellectuelle Protection des brevets Protection des marques Protection des dessins et modèles industriels Protection des indications géographiques Protection des obtentions végétales (UPOV) Règlement extrajudiciaire des litiges Solutions opérationnelles à l’intention des offices de propriété intellectuelle Paiement de services de propriété intellectuelle Décisions et négociations Coopération en matière de développement Appui à l’innovation Partenariats public-privé L’Organisation Travailler avec nous Responsabilité Brevets Marques Dessins et modèles industriels Indications géographiques Droit d’auteur Secrets d’affaires Académie de l’OMPI Ateliers et séminaires Journée mondiale de la propriété intellectuelle Magazine de l’OMPI Sensibilisation Études de cas et exemples de réussite Actualités dans le domaine de la propriété intellectuelle Prix de l’OMPI Entreprises Universités Peuples autochtones Instances judiciaires Ressources génétiques, savoirs traditionnels et expressions culturelles traditionnelles Économie Égalité des genres Santé mondiale Changement climatique Politique en matière de concurrence Objectifs de développement durable Application Technologies de pointe Applications mobiles Sport Tourisme PATENTSCOPE Analyse de brevets Classification internationale des brevets Programme ARDI – Recherche pour l’innovation Programme ASPI – Information spécialisée en matière de brevets Base de données mondiale sur les marques Madrid Monitor Base de données Article 6ter Express Classification de Nice Classification de Vienne Base de données mondiale sur les dessins et modèles Bulletin des dessins et modèles internationaux Base de données Hague Express Classification de Locarno Base de données Lisbon Express Base de données mondiale sur les marques relative aux indications géographiques Base de données PLUTO sur les variétés végétales Base de données GENIE Traités administrés par l’OMPI WIPO Lex – lois, traités et jugements en matière de propriété intellectuelle Normes de l’OMPI Statistiques de propriété intellectuelle WIPO Pearl (Terminologie) Publications de l’OMPI Profils nationaux Centre de connaissances de l’OMPI Série de rapports de l’OMPI consacrés aux tendances technologiques Indice mondial de l’innovation Rapport sur la propriété intellectuelle dans le monde PCT – Le système international des brevets ePCT Budapest – Le système international de dépôt des micro-organismes Madrid – Le système international des marques eMadrid Article 6ter (armoiries, drapeaux, emblèmes nationaux) La Haye – Le système international des dessins et modèles industriels eHague Lisbonne – Le système d’enregistrement international des indications géographiques eLisbon UPOV PRISMA Médiation Arbitrage Procédure d’expertise Litiges relatifs aux noms de domaine Accès centralisé aux résultats de la recherche et de l’examen (WIPO CASE) Service d’accès numérique aux documents de priorité (DAS) WIPO Pay Compte courant auprès de l’OMPI Assemblées de l’OMPI Comités permanents Calendrier des réunions Documents officiels de l’OMPI Plan d’action de l’OMPI pour le développement Assistance technique Institutions de formation en matière de propriété intellectuelle Mesures d’appui concernant la COVID-19 Stratégies nationales de propriété intellectuelle Assistance en matière d’élaboration des politiques et de formulation de la législation Pôle de coopération Centres d’appui à la technologie et à l’innovation (CATI) Transfert de technologie Programme d’aide aux inventeurs WIPO GREEN Initiative PAT-INFORMED de l’OMPI Consortium pour des livres accessibles L’OMPI pour les créateurs WIPO ALERT États membres Observateurs Directeur général Activités par unité administrative Bureaux extérieurs Avis de vacance d’emploi Achats Résultats et budget Rapports financiers Audit et supervision

Atelier de l’OMPI relatif à l’examen des brevets durant la phase nationale du PCT

27 février 2020

Un atelier de formation à l’intention des examinateurs de brevets s’est tenu du 3 au 6 février 2020 à Pretoria (Afrique du Sud). Cette manifestation a été organisée par l’OMPI en coopération avec la Commission des sociétés et de la propriété intellectuelle (CIPC) et avec le concours de l’Office des brevets du Japon (JPO).

L’objectif de l’atelier était d’enseigner et d’expliquer les meilleures façons de procéder à un examen quant au fond des demandes internationales selon le PCT entrant dans la phase nationale.

À propos de l’atelier

Les participants à l’atelier ont appris en particulier à effectuer des recherches relatives aux familles de brevets, à analyser l’état d’avancement de l’examen dans les différentes phases nationales et à extraire et comparer les citations et informations contenues dans les dossiers des membres d’une famille en utilisant les plateformes mentionnées et d’autres bases de données et outils, tels que Espacenet, J-PlatPat, PATENTSCOPE, US Public Pair et le Document commun pour les citations.

Les participants ont également découvert la procédure d’examen accéléré des demandes de brevet (programme PPH) en tant qu’initiative de partage du travail ainsi que la pratique d’examen de l’Office des brevets du Japon dans sa phase nationale.

Exposé de M. Lutz Mailänder, chef de la Section de la coopération en matière d’examen et de formation, Division de la coopération internationale du PCT, OMPI (Photo : OMPI/Lutz Mailänder)
Exposé de M. NAKANO Hiroyuki, directeur adjoint du Bureau de la planification des politiques en matière d’examen, Division des affaires administratives du JPO (Photo : JPO/Nakano Hiroyuki)
Participants (Photo : JPO/Nakano Hiroyuki)

Pour en savoir plus