عن الملكية الفكرية التدريب في مجال الملكية الفكرية إذكاء الاحترام للملكية الفكرية التوعية بالملكية الفكرية الملكية الفكرية لفائدة… الملكية الفكرية و… الملكية الفكرية في… معلومات البراءات والتكنولوجيا معلومات العلامات التجارية معلومات التصاميم الصناعية معلومات المؤشرات الجغرافية معلومات الأصناف النباتية (الأوبوف) القوانين والمعاهدات والأحكام القضائية المتعلقة بالملكية الفكرية مراجع الملكية الفكرية تقارير الملكية الفكرية حماية البراءات حماية العلامات التجارية حماية التصاميم الصناعية حماية المؤشرات الجغرافية حماية الأصناف النباتية (الأوبوف) تسوية المنازعات المتعلقة بالملكية الفكرية حلول الأعمال التجارية لمكاتب الملكية الفكرية دفع ثمن خدمات الملكية الفكرية هيئات صنع القرار والتفاوض التعاون التنموي دعم الابتكار الشراكات بين القطاعين العام والخاص أدوات وخدمات الذكاء الاصطناعي المنظمة العمل مع الويبو المساءلة البراءات العلامات التجارية التصاميم الصناعية المؤشرات الجغرافية حق المؤلف الأسرار التجارية أكاديمية الويبو الندوات وحلقات العمل إنفاذ الملكية الفكرية WIPO ALERT إذكاء الوعي اليوم العالمي للملكية الفكرية مجلة الويبو دراسات حالة وقصص ناجحة في مجال الملكية الفكرية أخبار الملكية الفكرية جوائز الويبو الأعمال الجامعات الشعوب الأصلية الأجهزة القضائية الموارد الوراثية والمعارف التقليدية وأشكال التعبير الثقافي التقليدي الاقتصاد المساواة بين الجنسين الصحة العالمية تغير المناخ سياسة المنافسة أهداف التنمية المستدامة التكنولوجيات الحدودية التطبيقات المحمولة الرياضة السياحة ركن البراءات تحليلات البراءات التصنيف الدولي للبراءات أَردي – البحث لأغراض الابتكار أَردي – البحث لأغراض الابتكار قاعدة البيانات العالمية للعلامات مرصد مدريد قاعدة بيانات المادة 6(ثالثاً) تصنيف نيس تصنيف فيينا قاعدة البيانات العالمية للتصاميم نشرة التصاميم الدولية قاعدة بيانات Hague Express تصنيف لوكارنو قاعدة بيانات Lisbon Express قاعدة البيانات العالمية للعلامات الخاصة بالمؤشرات الجغرافية قاعدة بيانات الأصناف النباتية (PLUTO) قاعدة بيانات الأجناس والأنواع (GENIE) المعاهدات التي تديرها الويبو ويبو لكس - القوانين والمعاهدات والأحكام القضائية المتعلقة بالملكية الفكرية معايير الويبو إحصاءات الملكية الفكرية ويبو بورل (المصطلحات) منشورات الويبو البيانات القطرية الخاصة بالملكية الفكرية مركز الويبو للمعارف الاتجاهات التكنولوجية للويبو مؤشر الابتكار العالمي التقرير العالمي للملكية الفكرية معاهدة التعاون بشأن البراءات – نظام البراءات الدولي ePCT بودابست – نظام الإيداع الدولي للكائنات الدقيقة مدريد – النظام الدولي للعلامات التجارية eMadrid الحماية بموجب المادة 6(ثالثاً) (الشعارات الشرفية، الأعلام، شعارات الدول) لاهاي – النظام الدولي للتصاميم eHague لشبونة – النظام الدولي لتسميات المنشأ والمؤشرات الجغرافية eLisbon UPOV PRISMA UPOV e-PVP Administration UPOV e-PVP DUS Exchange الوساطة التحكيم قرارات الخبراء المنازعات المتعلقة بأسماء الحقول نظام النفاذ المركزي إلى نتائج البحث والفحص (CASE) خدمة النفاذ الرقمي (DAS) WIPO Pay الحساب الجاري لدى الويبو جمعيات الويبو اللجان الدائمة الجدول الزمني للاجتماعات WIPO Webcast وثائق الويبو الرسمية أجندة التنمية المساعدة التقنية مؤسسات التدريب في مجال الملكية الفكرية الدعم المتعلق بكوفيد-19 الاستراتيجيات الوطنية للملكية الفكرية المساعدة في مجالي السياسة والتشريع محور التعاون مراكز دعم التكنولوجيا والابتكار نقل التكنولوجيا برنامج مساعدة المخترعين WIPO GREEN WIPO's PAT-INFORMED اتحاد الكتب الميسّرة اتحاد الويبو للمبدعين WIPO Translate أداة تحويل الكلام إلى نص مساعد التصنيف الدول الأعضاء المراقبون المدير العام الأنشطة بحسب كل وحدة المكاتب الخارجية المناصب الشاغرة المشتريات النتائج والميزانية التقارير المالية الرقابة
Arabic English Spanish French Russian Chinese
القوانين المعاهدات الأحكام التصفح بحسب كل ولاية قضائية

سويسرا

CH096

رجوع

Ordinanza del 26 aprile 1993 sulla protezione delle topografie di prodotti a semiconduttori (stato 22 maggio 2002)

 Ordinanza del 26 aprile 1993 sulla protezione delle topografie di prodotti a semiconduttori (stato 22 maggio 2002)

231.21Ordinanza sulla protezione delle topografie di prodotti a semiconduttori (Ordinanza sulle topografie, OTo)

del 26 aprile 1993 (Stato 28 maggio 2002)

Il Consiglio federale svizzero,

visti gli articoli 2 capoverso 2, 12 e 18 della legge federale del 9 ottobre 19921 sulle topografie (LTo); visto l’articolo 13 della legge federale del 24 marzo 19952 sullo statuto e sui compiti dell’Istituto federale della proprietà intellettuale (LIPI),3

ordina:

Sezione 1: Disposizioni generali

Art. 1 Competenza 1 L’esecuzione dei compiti amministrativi derivanti dalla LTo, nonché l’esecuzione della presente ordinanza, sono di competenza dell’Istituto della proprietà intellet­ tuale (Istituto).4

2 Fanno eccezione l’articolo 12 LTo e gli articoli 16 a 19 della presente ordinanza, la cui esecuzione è di competenza dell’Amministrazione delle dogane.

Art. 2 Lingua 1 Gli scritti indirizzati all’Istituto5 devono essere redatti in una lingua ufficiale sviz­ zera. 2 L’Istituto può esigere una traduzione nonché un attestato di conformità entro una determinata scadenza per i documenti probatori che non sono stati redatti in una lin­ gua ufficiale; se gli atti richiesti non vengono forniti, i documenti probatori sono considerati non pervenuti.

RU 1993 1834 1 RS 231.2 2 RS 172.010.31 3 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 25 ott. 1995 , in vigore dal 1° gen. 1996

(RU 1995 5156). 4 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 25 ott. 1995 , in vigore dal 1° gen. 1996

(RU 1995 5156). 5 Espressione sostituita dal n. I dell’O del 25 ott. 1995, in vigore dal 1° gen. 1996

(RU 1995 5156). Di detta modificazione è stato tenuto conto in tutto il presente testo.

1

231.21 Proprietà intellettuale

Art. 36 Tasse

Le tasse esigibili giusta la LTo o la presente ordinanza si fondano sull’ordinanza del 25 ottobre 19957 sulle tasse dell’Istituto federale della proprietà intellettuale.

Sezione 2: Procedura di deposito della domanda d’iscrizione

Art. 4 Pluralità di richiedenti 1 Se più persone presentano una topografia, l’Istituto può invitarle a designare una di loro oppure una terza persona quale rappresentante comune. 2 Fintanto che non è designato alcun rappresentante nonostante l’invito dell’Istituto, è considerata rappresentante la prima persona figurante sulla domanda.

Art. 5 Documenti necessari all’identificazione 1 Ai fini dell’identificazione e della rappresentazione concreta della topografia sono ammessi i seguenti documenti:

a. disegni o fotografie di circuiti (layouts) per la produzione del prodotto a semiconduttori;

b. disegni o fotografie di maschere o parti di maschere per la produzione del prodotto a semiconduttori;

c. disegni o fotografie di singoli strati del prodotto a semiconduttori. 2 Possono pure essere depositati supporti di dati che riportano singoli strati della topografia in forma digitalizzata oppure la relativa stampa su carta, nonché il pro­ dotto a semiconduttori stesso. 3 I documenti devono essere presentati nel formato DIN A4 (21×29,7 cm) oppure così piegati. I disegni, i piani o le fotografie a vasta superficie che non possono esse­ re piegati vanno presentati in rotoli che non devono eccedere 1,5 m di lunghezza e 15 cm di diametro.

Art. 6 Domanda incompleta 1 L’Istituto concede al richiedente un termine per completare una domanda d’iscri­ zione incompleta o lacunosa. 2 Se alla scadenza del termine la domanda non è stata rettificata, l’Istituto non entra nel merito.

6 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 25 ott. 1995 , in vigore dal 1° gen. 1996 (RU 1995 5156).

7 RS 232.148

2

Topografie – O 231.21

Sezione 3: Registro delle topografie

Art. 7 Contenuto del registro

L’Istituto inscrive i dati seguenti nel registro:

a. il numero di registrazione;

b. la data del deposito della domanda;

c. il nome o la ragione sociale nonché l’indirizzo del richiedente o del suo avente causa;

d. il nome e l’indirizzo del produttore;

e. la designazione della topografia;

f. la data e il luogo dell’eventuale prima commercializzazione della topografia;

g.8 la data della pubblicazione;

h. i cambiamenti della dimora abituale o della sede commerciale degli aventi diritto alla topografia;

i. le restrizioni della facoltà di disporre ordinate dai tribunali o dalle autorità cui compete l’esecuzione forzata;

k. la data della radiazione.

Art. 8 Fascicolo dei documenti

L’Istituto tiene un fascicolo per ogni topografia.

Art. 9 Segreto di fabbricazione e segreto d’affari 1 I documenti probatori messi agli atti, che rivelano segreti di fabbricazione o segreti d’affari, possono essere archiviati separatamente se ne è fatta richiesta. 2 I documenti che servono all’identificazione della topografia giusta l’articolo 5 non possono essere archiviati separatamente nella loro totalità. 3 Il fascicolo fa menzione dell’esistenza di documenti archiviati separatamente. 4 Dopo aver sentito gli aventi diritto alla topografia iscritti nel registro, l’Istituto decide se i documenti archiviati separatamente possono essere consultati o meno.

Art. 10 Attestato

Una volta effettuata la registrazione, l’Istituto rilascia un attestato.

Nuovo testo giusta il n. 1dell’all. all’’O dell’8 mar. 2002, in vigore dal 1° lug. 2002 (RS 232.121).

3

8

231.21 Proprietà intellettuale

Art. 119 Pubblicazione 1 L’Istituto pubblica i dati iscritti nel registro. 2 Esso designa l’organo di pubblicazione. 3 La pubblicazione può essere effettuata anche sotto forma elettronica. 4 La versione elettronica fa tuttavia fede soltanto se i dati sono pubblicati esclusiva­ mente sotto forma elettronica.

Art. 12 Modifica e radiazione di iscrizioni nel registro 1 Le richieste di modifica di iscrizioni registrate (art. 7 lett. c, h o i), nonché le richieste di radiazione totale o parziale di una topografia registrata devono essere presentate in forma scritta. 2 Per ogni richiesta di modifica deve essere corrisposta una tassa fatturata dall’Isti­ tuto.10

3 Per le modifiche determinate da una sentenza che ha forza esecutiva o da un prov­ vedimento esecutivo, nonché per le restrizioni della facoltà di disporre pronunciate da tribunali e autorità d’esecuzione non viene riscossa alcuna tassa. La richiesta di modifica deve essere corredata di una copia della sentenza e dell’attestato relativo all’esecutività. 4 Le modifiche sono riportate nel fascicolo, iscritte nel registro e attestate dall’Isti­ tuto.

Art. 13 Rettifica 1 Gli errori di registrazione vengono rettificati senza indugio su richiesta dell’avente diritto alla topografia. 2 Qualora l’errore fosse imputabile all’Istituto, la rettifica viene effettuata d’ufficio.

Art. 14 Estratti del registro

L’Istituto rilascia estratti del registro su richiesta e dietro pagamento di una tassa.

Art. 15 Conservazione e restituzione 1 L’Istituto conserva gli atti, nonché i supporti di dati e i prodotti a semiconduttori depositati per vent’anni a contare dalla data del deposito della domanda valevole. 2 I supporti di dati e i prodotti a semiconduttori di cui non viene richiesta la restitu­ zione dopo la scadenza del termine di conservazione possono essere restituiti d’ufficio. Qualora fosse impossibile stabilire l’indirizzo degli aventi diritto, gli oggetti depositati vengono distrutti insieme agli atti.

9 Nuovo testo giusta il n. 1dell’all. all’’O dell’8 mar. 2002, in vigore dal 1° lug. 2002 (RS 232.121).

10 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 25 ott. 1995 , in vigore dal 1° gen. 1996 (RU 1995 5156).

4

Topografie – O 231.21

Sezione 4: Intervento dell’Amministrazione delle dogane

Art. 1611 Portata

L’intervento dell’Amministrazione delle dogane copre l’importazione e l’esporta­ zione di prodotti a semiconduttori in merito ai quali esiste il sospetto che la messa in circolazione violi la legislazione vigente in Svizzera relativa alla protezione di topo­ grafie di prodotti a semiconduttori, nonché l’immagazzinamento di siffatti prodotti in un deposito doganale.

Art. 17 Domanda d’intervento 1 Gli aventi diritto devono presentare la domanda d’intervento alla Direzione gene­ rale delle dogane. In casi urgenti, la domanda può essere presentata direttamente all’ufficio doganale attraverso il quale si presume che i prodotti a semiconduttori sospetti siano importati o esportati.12

2 La domanda ha effetto per due anni, a meno che all’atto del deposito sia stata fissa­ ta una durata inferiore. La domanda è rinnovabile.

Art. 18 Ritenzione 1 Se l’ufficio doganale trattiene prodotti a semiconduttori, ne assume la custodia die­ tro pagamento di una tassa oppure li affida a terzi, a spese del richiedente. 2 Il richiedente è autorizzato ad esaminare i prodotti a semiconduttori trattenuti. Gli aventi diritto a disporre dei prodotti a semiconduttori possono assistere all’esame. 3 Qualora, prima della scadenza del termine previsto all’articolo 77 capoverso 2 e al capoverso 2bis LDA, risulti che il richiedente non possa ottenere provvedimenti cau­ telari, i prodotti a semiconduttori sono sbloccati immediatamente.13

Art. 19 Tasse

Le tasse riscosse per una domanda d’intervento, nonché per la custodia di prodotti a semiconduttori trattenuti, sono stabilite nell’ordinanza del 22 agosto 198414 sulle tasse dell’amministrazione delle dogane.

11 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 17 mag. 1995, in vigore dal 1° lug. 1995 (RU 1995 1779).

12 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 17 mag. 1995, in vigore dal 1° lug. 1995 (RU 1995 1779).

13 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 17 mag. 1995, in vigore dal 1° lug. 1995 (RU 1995 1779).

14 RS 631.152.1

5

231.21 Proprietà intellettuale

Sezione 5: Entrata in vigore

Art. 20

La presente ordinanza entra in vigore il 1° luglio 1993.

6