World Intellectual Property Organization

Taller OMPI - OCDE sobre estadísticas en el ámbito de las patentes

Ginebra, 18 y 19 de septiembre de 2003

El Taller OMPI - OCDE se organizó a instancias del Grupo especial de Trabajo de la OCDE sobre Estadísticas de Patentes, integrado por representantes de las siguientes instituciones: Oficina Japonesa de Patentes; Oficina de Patentes y Marcas de los Estados Unidos de América (USPTO); National Science Foundation (Estados Unidos de América); Oficina Europea de Patentes (OEP); Comisión Europea (CE) y Organización Mundial de la Propiedad Intelectual (OMPI), además de la OCDE.

Este taller fué organizado por la Organización Mundial de la Propiedad Intelectual (OMPI) en colaboración con la Organización para la Cooperación y el Desarrollo Económicos (OCDE). Tuvó lugar inmediatamente después de la Conferencia de la OMPI sobre la importancia de las estadísticas en el análisis de las tendencias y previsiones de patentamiento.

El taller OMPI - OCDE permitió que los usuarios de estadísticas de patentes se reúnieran con los encargados de elaborar dichas estadísticas a fin de examinar la situación actual en dicha esfera, analizar las necesidades de los usuarios y determinar la forma de mejorar la calidad y la disponibilidad de las estadísticas para responder a dichas necesidades. Se prestó especial atención a los diversos tipos de estadísticas sobre patentes disponibles en la actualidad, así como a los nuevos enfoques respecto de los indicadores basados en patentes. Se hizo también hincapié en cuestiones de orden metodológico para el análisis estadístico a partir de la información disponible en materia de patentes.

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