World Intellectual Property Organization

Statistiques sur les systèmes de la Haye, Madrid et PCT

Les statistiques présentées ici sont tirées de la base de données statistiques de l’OMPI.

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Le Centre de données statistiques de propriété intellectuelle de l’OMPI est le service en ligne qui permet d’accéder à la base de données statistiques de l’OMPI.

Les statistiques de propriété intellectuelle par pays fournissent des informations concernant la propriété intellectuelle de près de 190 pays.

Revues annuelles

Revue annuelle du système de La Haye : enregistrements internationaux de dessins et modèles industriels, édition 2014

Revue annuelle du
système de La Haye :
enregistrements
internationaux
de dessins et
modèles industriels

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Archives

Revue annuelle du système de Madrid : enregistrements internationaux de marques, 2014 edition

Revue annuelle du
système de Madrid :
enregistrements
internationaux
de marques
 

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Archives

Revue annuelle du PCT : le système international des brevets, 2014

Revue annuelle du
PCT :
le système
international
des brevets
 

 

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Archives

Plus de données

Système du PCT  
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Système de Madrid  
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Système de la Haye  
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