World Intellectual Property Organization

Statistiques sur les systèmes de la Haye, Madrid et PCT

Les statistiques présentées ici sont tirées de la base de données statistiques de l’OMPI.

Revues annuelles

Revue annuelle du PCT : le système international des brevets

Revue annuelle du PCT : le système international des brevets

  • Télécharger le rapport (en anglais)  PDF, Revue annuelle du PCT, le système international des brevets
  • Télécharger les données et les graphiques ZIP, Télécharger les données et les graphiques
  • Archives
PDF, Revue annuelle du système de Madrid : enregistrements internationaux de marques, 2015 edition

Revue annuelle du système de Madrid : enregistrements internationaux de marques

  • Télécharger le rapport  PDF, Revue annuelle du système de Madrid : enregistrements internationaux de marques, 2015 edition
  • Télécharger les données et les graphiques ZIP, Télécharger les données et les graphiques
  • Archives
PDF, Hague Yearly Review: International Registrations of Industrial Designs, 2015 edition

Revue annuelle du système de La Haye : enregistrements internationaux de dessins et modèles industriels

  • Télécharger le rapport (en anglais) PDF, Revue annuelle du système de La Haye : enregistrements internationaux de dessins et modèles industriels, édition 2015
  • Télécharger les données et les graphiques ZIP, Download data & graphs
  • Archives

Plus de données

Système du PCT

  • Liste des principaux déposants XLS, Liste des principaux déposants, PCT
  • Données historiques (1985-1999) ZIP, Données historiques (1985-1999)

Système de Madrid

Système de la Haye

Explorez l'OMPI