World Intellectual Property Organization

Estadísticas sobre las sistemas de la Haya, Madrid y PCT

Los datos presentados aquí provienen de la base de datos estadísticos de la OMPI. 

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El Centro de datos de estadísticas de P.I de la OMPI es el servicio en Internet que permite acceder a los datos de estadísticas de la OMPI.

En la página de perfiles estadísticos de los países se proporciona la información sobre P.I. correspondiente a unos 190 países.

Reseñas anuales

PDF, HReseña anual del sistema de La Haya:  Registros internacionales de dibujos y modelos industriales

Reseña anual
del sistema de La Haya:
Registros internacionales
de dibujos y modelos industriales

Descargar el informe  PDF, Reseña anual del sistema de La Haya:  Registros internacionales de dibujos y modelos industriales

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PDF, Reseña anual del sistema de Madrid: Registros internacionales de marcas, edición de 2014

Reseña anual
del sistema de Madrid:
Registros internacionales
de marcas

Descargar el informe  PDF, Madrid Yearly Review: International Registrations of Marks, edición de 2014

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PDF, Reseña anual del PCT:  el sistema internacional de patentes

Reseña anual
del PCT:
el sistema internacional
de patentes

Descargar el informe PDF, PCT Yearly Review: Key facts and figures on the international patent system

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Más datos

Sistema del PCT  
Lista de los principales solicitantes XLSX
Datos históricos (1985-1999) ZIP
Sistema de Madrid  
Lista de los principales solicitantes XLSX
Más estadísticas HTML
Sistema de la Haya  
Lista de los principales solicitantes XLSX
Más estadísticas HTML

Infografías

Fuente: Comunicado de prensa sobre las estadísticas en el año 2013

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