World Intellectual Property Organization

Estadísticas sobre las sistemas de la Haya, Madrid y PCT

Los datos presentados aquí provienen de la base de datos estadísticos de la OMPI.

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Reseñas anuales

Reseña anual del PCT: el sistema internacional de patentes

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PDF, Reseña anual del sistema de Madrid:  Registros internacionales de marcas, edición de 2015

Reseña anual del sistema de Madrid: Registros internacionales de marcas

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PDF, Reseña anual del sistema de La Haya:  Registros internacionales de dibujos y modelos industriales

Reseña anual del sistema de La Haya: Registros internacionales de dibujos y modelos industriales

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Más datos

Sistema del PCT

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Sistema de Madrid

Hague System

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