World Intellectual Property Organization

Estadísticas sobre las sistemas de la Haya, Madrid y PCT

Los datos presentados aquí provienen de la base de datos estadísticos de la OMPI.

Enlaces

Reseñas anuales

PDF, PCT Yearly Review: Key facts and figures on the international patent system

PCT: el sistema internacional de patentes

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PDF, Madrid Yearly Review: International Registrations of Marks, 2014 edition

Sistema de Madrid: Registros internacionales de marcas

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PDF, Hague Yearly Review: International Registrations of Industrial Designs, 2014 edition

Sistema de La Haya: Registros internacionales de dibujos y modelos industriales

  • Descargar el informe PDF, Hague Yearly Review: International Registrations of Industrial Designs, 2013 edition
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Más datos

Sistema del PCT

  • Lista de los principales solicitantes XLS, Lista de los principales solicitantes, PCT
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Sistema de Madrid

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