Définitions de la CIB - 01 janvier 2012
G01N 21/00 - Définition
Le présent groupe principal couvre:
La recherche ou l'analyse des matériaux par l’utilisation de rayonnement optique, c. à d. allant de l’ultraviolet extrême à l’infrarouge lointain, avec une longueur d’onde typiquement égale à 0,1-100 micromètres (µm), ou par examen visuel
Les sispositions ou les appareils pour faciliter la recherche optique , p.ex. cuvettes.
Les systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné, p.ex. propriétés spectrales du matériau.
Les systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente, p.ex. photo-luminescence, thermoluminescence ou électroluminescence.
Les systèmes dans lesquels le matériau est soumis à une réaction chimique, le déroulement ou le résultat de la réaction étant analysé optiquement, p.ex. chimioluminescence.
L'examen visuel, p.ex. pour rechercher la présence de criques, de défauts ou de souillures.
La recherche ou l'analyse des matériaux en utilisant d’autres effets optiques que ceux qui sont mentionnés ci-dessus.
Liens entre secteurs d'une large portée
L’étude des propriétés spectrales de la lumière en soi, ou la mesure des propriétés des matériaux, pour laquelle les propriétés spectrales de la lumière sont détectées et où l'accent premier est mis sur la production, la détection ou l'analyse du spectre, est classée dans G01J 3/00, contrairement à la recherche c.-à-d. l’essai ou la détermination des propriétés d’échantillons de matière grâce à des moyens optiques, où l’accent premier est mis sur les matériaux, et qui est classéedans le présent groupe.
L’essai ou la détermination des propriétés de structures ou ouvrages, p.ex.d’appareils, de pièces de machines etc., grâce à des moyens optiques, est classédans la sous-classe qui concerne la structure ou l’ouvrage analysé, contrairement à la recherche, c. à d l’essai ou la détermination des propriétés d’échantillons de matière grâce à des moyens optiques, qui est classé(edans le présent groupe. A cet égard, G01M 11/00 est l’endroit résiduel pour le classement de l’essai des appareils d'optique, ou l’essai des structures ou ouvrages par des méthodes optiques, qui n’est pas couvert ailleurs.
Renvois influençant le classement dans le présent groupe principal
Le présent groupe principal ne couvre pas:
Recherche des propriétés mécaniques des matériaux solides par application d’une contrainte mécanique | G01N 3/00 |
Analyse des matériaux par pesage, p.ex. pesage des fines particules séparées d’un gaz ou d’un liquide | G01N 5/00 |
Analyse des matériaux en mesurant la pression ou le volume d’un gaz ou d’une vapeur | G01N 7/00 |
Recherche de la densité ou du poids spécifique des matériaux ; analyse des matériaux en déterminant la densité ou le poids spécifique | G01N 9/00 |
Recherche des propriétés d’écoulement des matériaux, p.ex. la viscosité, la plasticité ; analyse des matériaux en déterminant les propriétés d’écoulement | G01N 11/00 |
Recherche des effets de surface ou de couche limite, p.ex. pouvoir mouillant ; recherche des effets de diffusion ; analyse des matériaux en déterminant les effets superficiels, limites ou de diffusion | G01N 13/00 |
Recherche de caractéristiques de particules ; recherche de la perméabilité, du volume des pores ou de l’aire superficielle effective de matériaux poreux | G01N 15/00 |
Recherche de la résistance des matériaux aux intempéries, à la corrosion ou à la lumière | G01N 17/00 |
Recherche sur les matériaux par des procédés mécaniques | G01N 19/00 |
Etude des propriétés spectrales de la lumière en soi, ou mesure des propriétés des matériaux, pour laquelle les propriétés spectrales de la lumière sont détectées et où l'accent essentiel est placé sur la production, la détection ou l'analyse du spectre, à condition que les propriétés des matériaux à analyser soient de moindre importance | G01J 3/00 |
Essais sans contact de circuits électroniques en utilisant des rayonnements optiques | G01R 31/308 |
Il est important de tenir compte des endroits suivants, qui peuvent présenter un intérêt pour la recherche:
Echantillonnage ; préparation des éprouvettes pour la recherche | G01N 1/00 |
Matériaux spécifiques | G01N 33/00 |
Analyse automatique ; manipulation de matériaux à cet effet | G01N 35/00 |
Appareils de laboratoire pour la chimie ou la physique, à usage général p.ex. verrerie de laboratoire, y compris porte-éprouvettes | B01L, B01L 3/00 |
Utilisation de moyens optiques pour mesurer la rugosité ou l’irrégularité des surfaces, ou pour mesurer la déformation dans un solide | G01B 9/00, G01B 11/00 |
Photométrie, c.-à-d. mesure de l’intensité de la lumière quelle que soit sa longueur d’onde ou sa polarisation | G01J 1/00 |
Mesure de la polarisation de la lumière | G01J 4/00 |
Pyrométrie du rayonnement optique | G01J 5/00 |
Mesure des forces ou des contraintes en mesurant les variations des propriétés optiques du matériau quand il est soumis à une contrainte, p.ex. par l'analyse des contraintes par photo-élasticité | G01L 1/24 |
Essai des appareils, éléments et systèmes d'optique ; essai des structures ou ouvrages par des méthodes optiques, non prévu ailleurs (voir également ci-dessus : Liens entre secteurs d'une large portée) | G01M 11/00 |
Systèmes de détermination de la direction, navigation, localisation, détection de présence utilisant la réflexion ou la reradiation d'ondes lumineuses, p.ex. lidars | G01S 17/00 |
Prospection ou détection par des moyens optiques | G01V 8/00 |
Eléments optiques d’instruments de mesure, p.ex. microscopes | G02B, G02B 21/00 |
Analyse d’image | G06T 7/00 |