Définitions de la CIB - 01 janvier 2012
G01Q 60/30 - Définition
Le présent groupe couvre:
Les AFM ou les appareils correspondants dans lesquels la force contrôlée est une interaction électrique affectée par la distribution du potentiel électrique sur la surface de l'échantillon, p.ex. microscopie à sonde Kelvin et microscopie à balayage à contrainte de Maxwell.